[发明专利]残周期采样确定振动台振级的方法在审
申请号: | 201810060713.5 | 申请日: | 2018-01-22 |
公开(公告)号: | CN108444591A | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 何闻;钟俊杰;杨争雄;贾叔仕 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01H17/00 | 分类号: | G01H17/00 |
代理公司: | 杭州天昊专利代理事务所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 黄芳 |
地址: | 310012 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 振动台 采样数据 周期采样 采样 快速估计 输出波形 正弦信号 超低频 时长 测试 节约 | ||
1.残周期采样确定振动台振级的方法,其特征在于:对振动台波形采样获得采样数据,采样时长小于一个周期,由采样数据进行幅值估计、获得振动台的当前振级。
2.如权利要求1所述的残周期采样确定振动台振级的方法,其特征在于:采用数据通过解矛盾方程组的方式估算出当前周期的最大幅值,该最大幅值为当前振级。
3.如权利要求1或2所述的残周期采样确定振动台振级的方法,其特征在于:采样时长大于振动周期的10%。
4.如权利要求3所述的残周期采样确定振动台振级的方法,其特征在于:采样数据的位移信号为其中,c3=d,x(k)为采样得到的位移波形,k表示第k个采样点,A为振动台的振动位移幅值,f为振动频率,fs为采样频率,为相位,d为直流量,设总采样点数为N,N<(fs/f),k的取值范围为0,1,2,3,…,N-1,其中,x(k)序列为测试所得,fs和f为用户设定值,为已知量。
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