[发明专利]一种通过频率计测量中央处理器内部锁相环稳定性的方法

权利要求书

1.一种通过频率计测量中央处理器内部锁相环稳定性的方法，其特征在于，所述中央处理器包括内部环路和晶体电路；所述方法包括：

步骤S1、所述中央处理器向所述晶体电路输出震荡激励信号；

步骤S2、所述晶体电路根据所述震荡激励信号产生时钟信号；

步骤S3、所述内部环路通过设置在所述中央处理器上的一输出端口输出未经锁相环的所述时钟信号；

步骤S4、采用一频率计，所述频率计连接所述输出端口，所述频率计接收未经所述锁相环的所述时钟信号并进行时钟精度测试以得到第一测试结果；

步骤S5、所述内部环路通过设置在所述中央处理器上的所述输出端口输出经过所述锁相环的所述时钟信号；

步骤S6、采用所述频率计，所述频率计连接所述输出端口，所述频率计接收经过所述锁相环的所述时钟信号并进行时钟精度测试以得到第二测试结果；

步骤S7、根据预设策略对所述第一测试结果和所述第二测试结果进行比较处理以得到所述锁相环的稳定性结果；

所述晶体电路包括：

一无源晶振，所述无源晶振的第一引脚用于向所述内部环路输入所述时钟信号，所述无源晶振的第三引脚用于接收所述中央处理器输出的所述震荡激励信号，所述无源晶振的第二引脚和第四引脚分别接地；

一第一电阻，所述无源晶振的第三引脚和第四引脚之间并联所述第一电阻；

一第二电阻，所述无源晶振的第三引脚通过所述第二电阻连接所述内部环路；

一第一电容，所述无源晶振的第一引脚通过所述第一电容接地；

一第二电容，所述无源晶振的第三引脚通过所述第二电容接地。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一电容与所述中央处理器的地直连。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二电容与所述中央处理器的地直连。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设策略为：

若判断第一测试结果和所述第二测试结果的偏差大于预设结果则判断所述锁相环的不稳定；

若判断第一测试结果和所述第二测试结果的偏差小于预设结果则判断所述锁相环的稳定。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输出端口包括第一子输出端口和第二子输出端口。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述步骤S3中，采用第一子输出端口输出未经所述锁相环的所述时钟信号的。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述步骤S5中，采用第二子输出端口输出未经所述锁相环的所述时钟信号的。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时钟信号的种类包括多个。