[发明专利]热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法在审
| 申请号： | 201810069907.1 | 申请日： | 2015-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN108132320A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 丸山文隆;藤卷成彦 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N30/12 | 分类号： | G01N30/12;G01N30/72 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国京都府京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 标准试样 色谱质谱分析装置 热裂 校准 分析对象 挥发 校正 高分子材料 材料形成 挥发性 打孔 穿孔机 开孔器 辊状 基材 卷成 采集 | ||
1.一种热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其在气相色谱仪的试样气体注入口的前段配置有热裂解装置，将通过在热裂解装置中加热试样而产生的气体从气相色谱仪的注入口导入，经过分离柱后导入质谱分析装置内进行分析，所述校正方法的特征在于，
将在高分子材料构成的基材中以规定浓度均匀分散分析对象成分而成的标准试样形成为片状，
在校正时从该片状的标准试样进行所需量的采集，
不进行溶剂提取，通过在所述热裂解装置中加热来进行直接分析。
2.如权利要求1所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
通过使用开孔器对所述片状的标准试样进行打孔来采集所需量的标准试样。
3.如权利要求1或2所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
所述片状的标准试样被卷成辊状。
4.如权利要求1或2所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
所述片状的标准试样被切割为规定的长度并相互重叠。
5.如权利要求1或2所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
所述片状的标准试样的正反两面被覆盖防挥发膜。
6.如权利要求1或2所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
所述片状的标准试样以30mg/Kg～2000mg/Kg的浓度含有分析对象成分。
7.如权利要求1或2所述的热裂解气相色谱质谱分析装置的校正方法，其特征在于，
所述片状的标准试样的片的厚度为0.1～1.3mm。
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