[发明专利]一种芯片内逻辑模型的测试方法及装置

权利要求书

1.一种芯片内逻辑模型的测试方法，其特征在于，包括：

生成测试向量集合，其中，每一个测试向量的长度等于待测试的逻辑模型的数据位宽，在相邻生成的测试向量之间，处于同一比特位的数据的逻辑值取值相反，以及在同一测试向量中，相邻比特位的数据的逻辑值取值相反；

在所述测试向量集合中读取各个测试向量，通过写指针写满所述逻辑模型中的RAM；

通过读指针，从所述RAM中每读取出两个写入的测试向量，通过写指针，再次从所述测试向量集合中读取一个测试向量并写入所述的RAM内，直到所述RAM清空为止；其中，针对同一存储地址，通过写指针再次写入的测试向量，与通过读指针读取的测试向量之间，位于同一比特位的逻辑值取值相反；

针对读取出的测试向量进行正确性判断。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述RAM清空之后，进一步包括：

通过写指针，从所述测试向量集合中每读取两个测试向量写入所述的RAM内，通过读指针，从所述RAM中读取出一个写入的测试向量，直到所述RAM写满为止；其中，针对同一存储地址，通过写指针再次写入的测试向量，与通过读指针读取的测试向量之间，位于同一比特位的逻辑值取值相反；

针对读取出的测试向量进行正确性判断。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，针对读取出的测试向量进行正确性判断，包括：

判断读取出的测试向量是否满足以下条件：

读取出的同一测试向量内，相邻比特位的逻辑值相反；

读取出的相邻的测试向量之间，同一比特位的逻辑值满足：按位与为0，按位或为1；确定不满足时，判定所述RAM内发生内容类故障。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括：

判断读取出的相邻的测试向量是否一致，确定一致时，判定所述RAM发生地址类故障。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括：

采用预设的响应分析ORA逻辑电路对读取出的测试向量进行正确性判断。

6.一种芯片内逻辑模型的测试装置，其特征在于，包括：

生成单元，用于生成测试向量集合，其中，每一个测试向量的长度等于待测试的逻辑模型的数据位宽，在相邻生成的测试向量之间，处于同一比特位的数据的逻辑值取值相反，以及在同一测试向量中，相邻比特位的数据的逻辑值取值相反；

测试单元，用于在所述测试向量集合中读取各个测试向量，通过写指针写满所述逻辑模型中的RAM；

通过读指针，从所述RAM中每读取出两个写入的测试向量，通过写指针，再次从所述测试向量集合中读取一个测试向量并写入所述的RAM内，直到所述RAM清空为止；其中，针对同一存储地址，通过写指针再次写入的测试向量，与通过读指针读取的测试向量之间，位于同一比特位的逻辑值取值相反；

针对读取出的测试向量进行正确性判断。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述RAM清空之后，所述测试单元进一步用于：

通过写指针，从所述测试向量集合中每读取两个测试向量写入所述的RAM内，通过读指针，从所述RAM中读取出一个写入的测试向量，直到所述RAM写满为止；其中，针对同一存储地址，通过写指针再次写入的测试向量，与通过读指针读取的测试向量之间，位于同一比特位的逻辑值取值相反；

针对读取出的测试向量进行正确性判断。

8.如权利要求6或7所述的装置，其特征在于，针对读取出的测试向量进行正确性判断时，所述测试单元用于：

判断读取出的测试向量是否满足以下条件：

读取出的同一测试向量内，相邻比特位的逻辑值相反；

读取出的相邻的测试向量之间，同一比特位的逻辑值满足：按位与为0，按位或为1；

确定不满足时，判定所述RAM内发生内容类故障。