[发明专利]对位检测方法及显示装置有效
申请号: | 201810076250.1 | 申请日: | 2018-01-26 |
公开(公告)号: | CN108132558B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 陈运金 | 申请(专利权)人: | 福州京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333;G02F1/1339 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张京波;曲鹏 |
地址: | 350300 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 对位 检测 方法 显示装置 | ||
本发明公开了一种对位检测方法及显示装置,该对位检测方法用于叠加设置的第一基板和第二基板的对位,所述检测方法包括:建立坐标系;提供至少一组分别设置在所述第一基板和第二基板上相对设置的第一标记区域和第二标记区域,所述第一标记区域与所述第二标记区域的相对设置形成至少两组相对设置的第一对位标记和第二对位标记;检测所述第一对位标记在所述第一基板上的垂直投影与所述第二对位标记在所述第二基板上的垂直投影的重合度,选取重合度最高的一组第一对位标记和第二对位标记,并读取重合度最高的第一对位标记和第二对位标记在所述坐标系内的坐标值;将所述坐标值与阈值对比,判断所述第一基板与所述第二基板对位的精准度,从而实现自动识别基板对位的精准度,减少生产时间和人力。
技术领域
本发明涉及位置测量技术领域,尤指一种对位检测方法及显示装置。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器属于高精密电子行业,细微的偏差都会造成产品的不良。一般薄膜晶体管液晶显示器的面板是由两个基板对合形成的,其中,两个基板一般为TFT和CF两块基板,也就是薄膜晶体管基板和彩色滤光片基板,两块基板的对合程度的好坏直接会影响显示器的显示效果。如果对合偏差较大,即在X和Y方向上两个基板的偏移量较大,有可能会造成显示器的漏光、无法正常显示等质量问题,因此需要引入对位标记来衡量TFT和CF两块基板对合程度的好坏。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种对位检测方法,用于叠加设置的第一基板和第二基板的对位,所述检测方法包括:
建立坐标系;
提供至少一组分别设置在所述第一基板和第二基板上相对设置的第一标记区域和第二标记区域,所述第一标记区域内设有多个间隔设置的第一对位标记,所述第二标记区域内设有多个间隔设置的第二对位标记,所述第一对位标记之间的间距与所述第二对位标记之间的间距不同;所述第一标记区域与所述第二标记区域的相对设置形成至少两组相对设置的第一对位标记和第二对位标记;
检测所述第一对位标记在所述第一基板上的垂直投影与所述第二对位标记在所述第二基板上的垂直投影的重合度,选取重合度最高的一组第一对位标记和第二对位标记,并读取重合度最高的第一对位标记和第二对位标记在所述坐标系内的坐标值;
将所述坐标值与阈值对比,判断所述第一基板与所述第二基板对位的精准度。
可选地,所述检测方法还包括:根据所述坐标值与阈值的对比,判断所述第一基板与所述第二基板对位的偏差方向和/或偏差距离,并根据所述偏差方向和/或偏差距离校正所述第一基板与所述第二基板的对位。
可选地,所述选取重合度最高的一组第一对位标记和第二对位标记的方法包括:
通过光学检测仪检测所述第一对位标记在所述第一基板上的垂直投影与所述第二对位标记在所述第二基板上的垂直投影重叠部分的灰度值;并将检测的灰度值进行对比,选取灰度值最高的一组第一对位标记和第二对位标记,所述灰度值最高的第一对位标记和第二对位标记为重合度最高的第一对位标记和第二对位标记。
第二方面,本发明还提供了一种显示装置,包括叠加设置的第一基板和第二基板,所述第一基板上设有第一标记区域,所述第二基板上设有与所述第一标记区域相对设置的第二标记区域,所述第一标记区域内设有多个间隔设置的第一对位标记,所述第二标记区域内设有多个间隔设置的第二对位标记,所述第一对位标记之间的间距与所述第二对位标记之间的间距不同,所述第一标记区域与所述第二标记区域的相对设置形成至少两组相对设置的第一对位标记和第二对位标记。
可选地,所述第一对位标记为透光区域,所述第二对位标记为对位柱。
可选地,所述第一对位标记与所述第二对位标记在所述显示装置上的垂直投影的形状和面积相同。
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