[发明专利]低压交流开关通断检验功率因数测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，由基本电路和特征电路构成，基本电路包括由试验电源顺序电连接第一开关柜、冲击试验变压器、前级负载阻抗及IGBT阵列A、第二开关柜、前级陪试、被检验低压交流开关、后级陪试、后级负载阻抗及IGBT阵列B、接地装置构成的低压交流开关通断检验试验电路，PLC分别电连接第一开关柜、通讯模块、电源模块、控制面板、编程接口、第二开关柜、继电器A、继电器C、时间检测模块、继电器B，通讯模块顺序电连接工业计算机、打印机，继电器A电连接前级陪试，继电器B电连接后级陪试，继电器C、时间检测模块分别电连接被检验低压交流开关，特征在于：特征电路包括PLC还分别电连接隔离放大电路A、隔离放大电路B、DSP，隔离放大电路A电连接前级负载阻抗及IGBT阵列A，隔离放大电路B电连接后级负载阻抗及IGBT阵列B，DSP通过电流检测模块、电压检测模块分别电连接被检验低压交流开关。

2.根据权利要求1所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：后级负载阻抗及IGBT阵列B结构包括顺序电连接于后级陪试的电阻回路、电感回路，电阻回路包括每个电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6两端通过对应的IGBT1、IGBT7，IGBT2、IGBT8，IGBT3、IGBT9，IGBT4、IGBT10，IGBT5、IGBT11并联连接，并由隔离放大电路B信号输出端分别通过B1、B2、B3、B4、B5、B7、B8、B9、B10、B11接入，电阻R5右端与电阻R6左端通过IGBT6连接，并由隔离放大电路B信号输出端通过B6接入，电感回路包括每个电感L1、L2、L3、L4、L5、L6两端通过对应的IGBT12、IGBT17，IGBT13、IGBT18，IGBT14、IGBT19，IGBT15、IGBT20，IGBT16、IGBT21并联连接，并由隔离放大电路B信号输出端分别通过B12、B13、B14、B15、B16、B17、B18、B19、B20、B21接入，电感L5右端与电感L6左端通过IGBT22连接，并由隔离放大电路B信号输出端通过B22接入。

3.根据权利要求1所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：前级负载阻抗及IGBT阵列A结构原理与后级负载阻抗及IGBT阵列B结构原理相同，前级陪试与后级陪试结构相同。

4.根据权利要求1所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：后级负载阻抗及IGBT阵列B结构中的电阻个数与对应的IGBT个数可增减，电感个数与对应的IGBT个数也可增减。

5.根据权利要求2所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：前级负载阻抗及IGBT阵列A结构原理与后级负载阻抗及IGBT阵列B结构原理相同，前级陪试与后级陪试结构相同。

6.根据权利要求2所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：后级负载阻抗及IGBT阵列B结构中的电阻个数与对应的IGBT个数可增减，电感个数与对应的IGBT个数也可增减。

7.根据权利要求3所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：后级负载阻抗及IGBT阵列B结构中的电阻个数与对应的IGBT个数可增减，电感个数与对应的IGBT个数也可增减。

8.根据权利要求5所述的一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：后级负载阻抗及IGBT阵列B结构中的电阻个数与对应的IGBT个数可增减，电感个数与对应的IGBT个数也可增减。

9.根据权利要求1-8所述的任一种低压交流开关通断检验功率因数测试系统，其特征在于：控制面板上主要包括电源模块开关、第一开关柜控制按钮、第二开关柜控制按钮、触摸屏。