[发明专利]粒子计数方法、实现所述方法的粒子计数装置和粒子分析仪有效
申请号: | 201810078313.7 | 申请日: | 2018-01-26 |
公开(公告)号: | CN108037060B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 乐家新;乐鹏;马骏龙;王成彬;肖征 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军总医院 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01N15/12 |
代理公司: | 北京君智知识产权代理事务所(普通合伙) 11305 | 代理人: | 黄绿雯 |
地址: | 100853*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粒子 计数 方法 实现 装置 分析 | ||
1.粒子计数方法,所述方法包括以下步骤:
(1)使粒子流通过微孔,获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔;
(2)根据步骤(1)的到达时间间隔,绘制所述到达时间间隔的分布曲线,得到第一分布曲线;
(3)对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合,得到第二分布曲线;所述三次多项式曲线拟合的拟合方程是:
f(t)=A*t3+B*t2+C*t+D,
其中,t为变量,代表步骤(1)的到达时间间隔,A、B、C和D为通过所述第一分布曲线的数据得到的拟合参数;
(4)分别计算所述第一分布曲线和所述第二分布曲线下的面积,得到第一面积和第二面积;
(5)根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正,得到粒子计数结果,修正公式为:
其中,所述N为粒子计数结果,所述S0为第一面积,所述S1为第二面积,所述N0为粒子的原始检测数目。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于步骤(1)中,将粒子流中的粒子通过微孔时触发的电信号作为脉冲信号,获取相邻两个脉冲之间的时间间隔,作为到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于步骤(3)中,在对第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合时,是对第一分布曲线的可信赖区域进行三次多项式曲线拟合,所述可信赖区域是两个相邻粒子的最小间距。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于步骤(5)中,粒子的原始检测数目的计数方法是获取粒子流中的粒子通过微孔时触发的电信号作为脉冲信号,所述脉冲信号的个数作为粒子的原始检测数目。
5.一种粒子计数装置,所述装置包括:
获取模块,用于获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔;
曲线绘制模块,用于绘制所述到达时间间隔的分布曲线,得到第一分布曲线;
曲线拟合模块,用于对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合,得到第二分布曲线;
所述三次多项式曲线拟合的拟合方程是:
f(t)=A*t3+B*t2+C*t+D,
其中,t为变量,代表步骤(1)的到达时间间隔,A、B、C和D为通过所述第一分布曲线的数据得到的拟合参数;
计算模块,用于分别计算所述第一分布曲线和所述第二分布曲线下的面积,得到第一面积和第二面积;
修正模块,用于根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正,得到粒子计数结果;
修正公式为:
其中,所述N为粒子计数结果,所述S0为第一面积,所述S1为第二面积,所述N0为粒子的原始检测数目。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于以粒子流中的粒子通过微孔时触发的电信号作为脉冲信号,所述获取模块获取相邻两个所述脉冲信号间的时间间隔,作为所述到达时间间隔。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于所述获取模块还用于获取粒子流中的粒子通过微孔时的脉冲信号,并根据脉冲信号的个数获取粒子的原始检测数目。
8.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质包括程序,所述程序能够被处理器执行以实现根据权利要求1至3中任一项权利要求所述的方法。
9.一种粒子分析仪,所述粒子分析仪包括:
检测池,所述检测池包括前池(1)、后池(2)以及将前池(1)和后池(2)分隔开的隔板(3),所述隔板上具有连通前池和后池的微孔(6);
一对电极(4),所述电极(4)分别设置在前池(1)和后池中(2),通电时在前池(1)和后池(2)中形成电场,并在有粒子通过微孔时输出脉冲信号;
其特征在于所述粒子分析仪还包括数据处理器(5),所述数据处理器(5)获取所述脉冲信号,并根据脉冲信号得到粒子的原始检测数目和到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔,绘制所述到达时间间隔的分布曲线,得到第一分布曲线,并对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合,得到第二分布曲线,分别计算所述第一分布曲线和所述第二分布曲线下的面积,得到第一面积和第二面积,根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正,得到粒子计数结果;
其中,对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合的拟合方程是:
f(t)=A*t3+B*t2+C*t+D
其中,t为变量,代表到达时间间隔,A、B、C和D为通过所述第一分布曲线的数据得到的拟合参数;
对粒子的原始检测数目进行修正的修正公式是:
其中,所述N为粒子计数结果,所述S0为第一面积,所述S1为第二面积,所述N0为粒子的原始检测数目。
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