[发明专利]粒子计数方法、实现所述方法的粒子计数装置和粒子分析仪

说明书

本发明涉及一种粒子计数方法，该方法以获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔绘制分布曲线，为第一分布曲线；对第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合得到第二分布曲线；计算第一分布曲线和第二分布曲线下的面积，得到第一面积和第二面积；根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正，得到粒子计数结果。本发明还涉及实施该计数方法的计数装置和粒子分析仪。本发明通过粒子计数方法的改进对重叠粒子进行了补偿，使得粒子计数结果更加接近真实的粒子数目；可应用于各类粒子数检测仪器，具有广泛的适用性。

【技术领域】

本发明涉及粒子计数技术领域，具体涉及一种粒子计数方法，以及实现所述方法的粒子计数装置和粒子分析仪。

【背景技术】

在化工、冶金、环保、医药卫生等行业，通常会遇到对微细颗粒物的检测、血细胞分析计数、注射液等药品的质量检验等问题，在检测悬液中颗粒的数量及大小方面，美国科学家华莱士·库尔特发明的利用电阻法对粒子数进行计数的方法(即库尔特原理)是目前较为有效的方法。利用电阻法对粒子数进行计数的基本原理是：在检测装置的检测小孔的两边各浸有一个电极，由于悬浮在电解质中的粒子和电解质之间在导电性能方面存在明显的差异，故当悬浮在电解质中的粒子通过该检测小孔时，检测小孔两边的电极之间将产生电压脉冲，该电压脉冲的个数便代表了粒子的数目，电压脉冲的振幅与粒子的体积成正比。

例如中国发明专利申请CN 201510369607.1公开的计数器及流式细胞分析仪，在使用该方法进行粒子数计数的过程中，当两个或者多个粒子以较近的距离连续通过检测装置的检测小孔时，只会产生一个脉冲信号，这样，在利用脉冲个数表示粒子数目时便只能被识别为一个粒子，这种现象被称为粒子重叠。粒子重叠现象的产生将会导致最终的粒子计数结果小于真实的粒子数目，因而需要对粒子计数结果进行修正。

【发明内容】

本发明的目的是克服现有技术缺陷，提供一种计数结果更准确的粒子计数方法、基于计数方法的粒子计数装置和粒子分析仪，以实现粒子计数过程中重叠粒子数的补偿。

为此，本发明提供一种粒子计数方法，所述方法包括以下步骤：

(1)使粒子流通过微孔，获取到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔；

(2)根据步骤(1)的到达时间间隔，绘制所述到达时间间隔的分布曲线，得到第一分布曲线；

(3)对所述第一分布曲线进行三次多项式曲线拟合，得到第二分布曲线；所述三次多项式曲线拟合的拟合方程是：

f(t)＝A*t³+B*t²+C*t+D，

其中，t为变量，代表步骤(1)的到达时间间隔，A、B、C和D为通过所述第一分布曲线的数据得到的拟合参数；

(4)分别计算所述第一分布曲线和所述第二分布曲线下的面积，得到第一面积和第二面积；

(5)根据所述第一面积和所述第二面积之比对粒子的原始检测数目进行修正，得到粒子计数结果，修正公式为：

其中，所述N为粒子计数结果，所述S₀为第一面积，所述S₁为第二面积，所述N₀为粒子的原始检测数目。

在上述计数方法的步骤(1)中，将粒子流中的粒子通过微孔时触发的电信号作为脉冲信号，获取相邻两个脉冲之间的时间间隔，作为到达微孔的相邻粒子之间的到达时间间隔。

步骤(5)中，粒子的原始检测数目的计数方法是获取粒子流中的粒子通过微孔时触发的电信号作为脉冲信号，所述脉冲信号的个数作为粒子的原始检测数目。

基于上述计数方法，本发明进一步提供了一种粒子计数装置，所述装置包括：