[发明专利]振荡器、电子设备、移动体以及振荡器的制造方法

说明书

本发明提供振荡器、电子设备、移动体以及振荡器的制造方法，能够实现小型化和静电破坏风险的降低，并且能够进行振子的激励电平依赖性的检查。振荡器包含：外部端子；振子；以及振荡电路，其使所述振子进行振荡，所述振荡电路具有放大电路以及对所述放大电路提供电流的电流源，根据从所述外部端子输入的第一控制信号来设定所述电流，所述振子的激励电平根据所述电流的设定而变化。

技术领域

本发明涉及振荡器、电子设备、移动体以及振荡器的制造方法。

背景技术

使水晶振子等振子进行振荡而输出期望的频率的信号的振荡器广泛用于各种各样的电子设备或系统中。在这种振荡器中，在其出厂前进行用于拣选良品和不良品的检查。例如，在专利文献1中记载了如下的内容：水晶振荡器具有根据来自外部的控制信号而使IC电路的负性电阻值发生变化的单元，使用水晶振荡器使负性电阻值发生变化并且监视振荡输出，根据停止振荡时和/或开始振荡时的负性电阻值而求出水晶振子的串联谐振电阻值，根据该串联谐振电阻值与在IC电路设计时所设定的负性电阻值之间的关系来判定水晶振子的良好与否。

专利文献1：日本特开2010-246059号公报

然而，即使水晶振子的串联谐振电阻值正常，也有时由于异物附着于水晶振子而导致振荡器的频率异常，作为水晶振子的检查，仅仅通过专利文献1所记载的检查并不充分。为了判定异物是否附着于水晶振子，而进行对于水晶振子的振荡频率的激励电平依赖性(DLD：Drive Level Dependency)的检查(以下，称为“DLD检查”)，但为了进行DLD检查，需要在振荡器中设置与振子的两端电连接的检查端子，因此存在如下的问题：在小型封装振荡器中很难确保用于配置检查端子的空间，并且测定器对于检查端子的探测也很困难。此外，被探测的端子露出到振荡器的外部，因此经由该端子输入静电而导致振荡电路被破坏的风险也增大。

发明内容

本发明是鉴于以上的问题点而完成的，根据本发明的几个方式，能够提供如下的振荡器和振荡器的制造方法：能够实现小型化和静电破坏风险的降低，并且能够进行振子的激励电平依赖性的检查。并且，根据本发明的几个方式，能够提供使用了该振荡器的电子设备和移动体。

本发明是为了解决上述课题的至少一部分而完成的，能够作为以下的方式或应用例而实现。

[应用例1]

本应用例的振荡器包含：外部端子；振子；以及振荡电路，其使所述振子进行振荡，所述振荡电路具有放大电路以及对所述放大电路提供电流的电流源，根据从所述外部端子输入的第一控制信号来设定所述电流，所述振子的激励电平根据所述电流的设定而变化。

根据本应用例的振荡器，由于与根据从外部端子输入的第一控制信号而可变地设定的电流对应地，振子的激励电平发生变化，因此能够基于振荡器的输出信号对振子的激励电平依赖性进行检查。

并且，根据本应用例的振荡器，能够采用不设置与振子的两端电连接的检查端子的结构，因此能够实现小型化和静电破坏风险的降低。

[应用例2]

在上述应用例的振荡器中，也可以为，所述放大电路具有：NMOS晶体管；以及电阻，其一端与所述NMOS晶体管的栅极端子电连接，另一端与所述NMOS晶体管的漏极端子电连接，所述电流源对所述NMOS晶体管的所述漏极端子提供所述电流。

根据本应用例的振荡器，由于振子的激励电平根据流过NMOS晶体管的漏极端子的电流而变化，因此能够基于流过NMOS晶体管的电流量对振子的激励电平依赖性进行检查。

[应用例3]

在上述应用例的振荡器中，也可以为，根据从所述外部端子输入的第二控制信号可变地设定所述振子的负载电容，所述激励电平根据所述负载电容而变化。