[发明专利]一种时钟芯片的测试系统及其测试方法

权利要求书

1.一种时钟芯片的测试系统，其特征在于：包括微控制器、计数器和高速时钟源；所述微控制器用于将测试逻辑写入待测时钟芯片和对待测时钟芯片进行设置以使待测时钟芯片输出报警中断；所述计数器用于计算待测时钟芯片产生的报警中断的周期；所述高速时钟源用于替代待测时钟源产生时钟脉冲信号传输至所述待测时钟芯片；所述高速时钟源的频率大于待测时钟源的频率；所述微控制器用于将测试逻辑写入所述待测时钟芯片以及用于判断所述待测时钟芯片的计时逻辑是否正确。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：还包括高低温箱，所述高低温箱用于为测试提供温度不同的测试环境。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述测试系统设有测试口，所述测试口用于与不同的测试座连接，所述测试座用于与不同的待测时钟芯片连接。

4.一种时钟芯片的测试系统的测试方法，其特征在于，包括测试计时精度，包括如下步骤：

在可提供不同温度的空间进行计时精度的测试；

微控制器对待测试时钟芯片进行设置以使待测时钟芯片输出报警中断；

待测时钟源产生时钟脉冲信号传输至待测时钟芯片；

待测时钟芯片输出报警中断至计数器；

计数器计算待测时钟芯片产生的报警中断的周期；

还包括测试计时逻辑，包括如下步骤：

高速时钟源替代待测时钟源产生时钟脉冲信号传输至待测时钟芯片；

微控制器将测试逻辑写入待测时钟芯片；

微控制器判断待测时钟芯片的计时逻辑是否正确。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述报警中断的形式包括如下之一或者多个的组合：秒钟报警中断、分钟报警中断、小时报警中断。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于计算待测时钟芯片产生的报警中断的周期具体包括：记录报警中断的下降沿之间的周期或者记录报警中断的上升沿之间的周期。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述报警中断的时间长度为温度补偿的时间间隔的整数倍。

8.根据权利要求4至7任一项所述的方法，其特征在于：所述待测时钟芯片的温度补偿的方式包括数字温度补偿和模拟温度补偿。