[发明专利]一种改善电极环粘附性的PV膜层及粘附性改善方法在审
申请号: | 201810092423.9 | 申请日: | 2018-01-31 |
公开(公告)号: | CN108321276A | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 胡卫 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44 |
代理公司: | 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 郑隽;吴婷 |
地址: | 423038 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电极环 粘附性 电极外表面 透明绝缘层 粘附性改善 崩裂现象 受热 电极 薄膜层 外延片 膜层 球带 沉积 覆盖 | ||
本发明提供了一种改善电极环粘附性的PV膜层及电极环粘附性的改善方法,所述PV膜层为:外延片的ITO环外沉积SiNO薄膜层作为透明绝缘层。因SiNO膜层能完整覆盖在电极外表面,不会产生崩裂现象,有效保护电极,防止被焊球带起,从而降低ITO环上的PAD在受热时脱落的几率。
技术领域
本发明涉及LED电极结构的制备技术领域,特别地,涉及一种改善电极环的粘附性的PV膜层及粘附性改善方法。
背景技术
在透明绝缘层(PV层)开孔图形制作过程中,外延片的ITO环外的SiO2层与Au受热后,SiO2层会从Au表面崩裂,导致ITO环上的PAD脱落,造成产品质量问题。
业内急需一种降低ITO环上的PAD脱落概率的新型技术。
发明内容
本发明目的在于提供一种改善电极环的粘附性的PV膜层及粘附性改善方法,以解决ITO环上的PAD在受热时脱落的技术问题。
为实现上述目的,本发明提供了一种改善电极环的粘附性的PV膜层,外延片的ITO环外和裸露的N-GaN层外沉积SiNO薄膜层作为透明绝缘层。该PV膜层保护ITO环上的电极不易脱落,因电极与ITO环粘附力较差,与P-GaN粘附力较好,而SiNO膜层与Au粘附力较好。
优选的,SiNO薄膜层的折射率为1.74。
优选的,透明绝缘层的沉积厚度在之间。
优选的,透明绝缘层的沉积厚度为
一种电极环粘附性的改善方法,在电极及ITO层表面上,利用PECVD设备沉积SiNO作为透明绝缘层;沉积过程的工艺条件为:基板温度260℃,腔体压力800mtorr,通入的气体比例为SiH4:NH3:N2O=1.5:1:6,用高纯N2做载气,总气体流量为2000sccm。。
本发明具有以下有益效果:
因SiO2膜层与Au接触区域易裂开,而SiNO膜层能完整覆盖在电极外表面,不会产生崩裂现象,有效保护电极,防止被焊球带起。
在电极粘附性焊线实验中进行对比的结果如下:SiO2薄膜工艺焊线验证偶尔出现掉电极环,SiNO薄膜则能有效改善掉环问题。引起这个状况的原因可能是:SiO2为正四面体结构,Si-O键的键能很大,在受热条件下,由原子热振动引起的振幅与位移均较小,这就使得其热膨胀系数很小。而SiNO中的Si-N-O键能较弱,抵抗热振动的能力较差,导致其热膨胀系数较大。因此,在PV开孔图形制作过程中,SiNO与Au不会因热膨胀失配导致PV层崩裂,ITO环上的PAD自然在受热时也不会脱落。
SiNO薄膜做透明绝缘层,还有以下几点优势:
1、匹配的折射率(介于GaN层与封装胶之间):LED出光效率低的主要问题为出射角锥过小,同样,高折射率GaN层与低折射率封装胶不匹配导致全反射比例高,即使后续通过DBR层后出光,在GaN层内部多次反射也会损耗,即全反射损耗。要增加出射角锥,需选取折射率为n2=n1*n2=2.43*1.5,即n=1.9的介质作为透明绝缘层比较合适,而SiNO薄膜的折射率在1.46~2.0之间,符合所有特征,本申请通过调整NH3比例,得到合适折射率的膜层。经过实际试验验证效果后,选取折射率1.74的膜层。
2、较高的穿透率:为消除薄膜上下两个表面反射的光互相干涉,增加透射光能。薄膜的折射率和厚度也必须满足一定的条件。两束反射光在界面处都会产生半波损失,因此光程差=1/2波长时,膜层厚度最小。本申请通过测量不同厚度薄膜对应穿透率选择最佳匹配厚度
3、良好的绝缘性、硬度等。
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