[发明专利]半导体装置

权利要求书

1.一种半导体装置，其特征在于，包括：

总线，被配置成根据总线协议传输信号；

与所述总线进行电连接的受测试设计；

与所述总线进行电连接的处理核心，被配置成执行测试软件以确定所述受测试设计的最佳工作电压；以及

保护电路，所述保护电路被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时未定义信号传输到所述总线或被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时传输由所述受测试设计产生的边带信号，

其中所述未定义信号包括未定义总线信号，以及

其中所述保护电路被配置成将所述未定义信号或所述边带信号的产生通知所述处理核心。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述保护电路电连接在所述受测试设计与所述总线之间。

3.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

所述受测试设计电连接到共用逻辑，所述保护电路被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时所述边带信号传输到所述共用逻辑。

4.根据权利要求3所述的半导体装置，其特征在于，所述保护电路电连接在所述受测试设计与所述共用逻辑之间。

5.根据权利要求3所述的半导体装置，其特征在于，所述保护电路被配置成通过将所述受测试设计的一部分端口固定成设定值来阻止所述边带信号传输到所述共用逻辑。

6.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述保护电路被配置成在所述处理核心执行所述测试软件以测试所述受测试设计之前进入工作状态。

7.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，所述测试软件包括用于响应于将所述未定义信号或所述边带信号的产生通知所述处理核心来停止测试所述受测试设计的指令。

8.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，还包括：

电压控制器，被配置成向所述受测试设计提供测试电压。

9.一种半导体装置，其特征在于，包括：

受测试设计；

与所述受测试设计进行电连接的总线，所述总线被配置成根据总线协议传输信号；

第一保护电路，被配置成阻止在用于确定所述受测试设计的最佳工作电压的测试期间由所述受测试设计产生的第一未定义信号传输到所述总线，所述第一未定义信号包括未定义总线信号；以及

第二保护电路，被配置成阻止在所述测试期间传输由所述受测试设计产生的第二未定义信号，所述第二未定义信号包括边带信号。

10.根据权利要求9所述的半导体装置，其特征在于，

所述第一保护电路被配置成阻止所述第一未定义信号传输到所述半导体装置的第一区。

11.根据权利要求10所述的半导体装置，其特征在于，

所述第一区包括总线，且

所述第一保护电路电连接在所述受测试设计与所述总线之间。

12.根据权利要求9所述的半导体装置，其特征在于，

所述第二保护电路被配置成阻止所述边带信号传输到所述半导体装置的第二区。

13.根据权利要求12所述的半导体装置，其特征在于，

所述第二区包括共用逻辑，且

所述第二保护电路电连接在所述受测试设计与所述共用逻辑之间。

14.根据权利要求13所述的半导体装置，其特征在于，所述第二保护电路被配置成通过将所述受测试设计的一部分端口固定成设定值来阻止所述边带信号传输到所述共用逻辑。

15.根据权利要求9所述的半导体装置，其特征在于，所述第一保护电路及所述第二保护电路被配置成在测试开始之前进入工作状态。