[发明专利]半导体装置

说明书

本发明提供一种半导体装置，可在确保半导体装置正常工作的同时降低半导体装置的功耗以及热量产生。一种半导体装置包括：受测试设计；处理核心，被配置成执行测试软件以确定所述受测试设计的最佳工作电压；以及保护电路，被配置成阻止在所述处理核心执行所述测试软件的同时由所述受测试设计产生的未定义信号的传输。

本申请主张在2017年2月1日在韩国知识产权局提出申请的韩国专利申请第10-2017-0014217号的优先权、以及基于35U.S.C.§119而自所述韩国专利申请衍生出的所有权利，所述韩国专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。

技术领域

本发明涉及一种半导体装置。

背景技术

例如系统芯片(System-on-Chip，SoC)装置等半导体装置包括各种元件(例如，处理核心、存储器控制器等)，且通过从外部源接收电源电压来被驱动。向半导体装置提供的电源电压一般来说被确定成具有预定裕量，这是由于考虑到各种环境条件，除非向半导体装置供应足以使半导体装置正常工作的电源电压，否则可能会出现系统故障。

然而，随着电源电压的裕量增大，由半导体装置所不必要地消耗的电力量可增加，且由半导体装置产生的热量也可增加。为解决这一问题，需要准确地确定半导体装置的最佳工作电压，从而使得半导体装置可稳定地工作且可使电源电压的裕量最小化。

发明内容

本发明的一些示例性实施例提供一种半导体装置，所述半导体装置能够执行测试以确定最佳工作电压，且也能够阻止可在测试期间产生的未定义信号的影响，所述最佳工作电压可在确保半导体装置正常工作的同时降低半导体装置的功耗以及热量产生。

然而，本发明的示例性实施例并非仅限于本文中所述的实施例。通过参照以下给出的本发明的详细说明，对本发明所属领域中的普通技术人员来说，本发明的以上及其他示例性实施例将变得更显而易见。

根据本发明的一些示例性实施例，提供一种半导体装置，所述半导体装置包括：受测试设计(design under test，DUT)；处理核心，执行测试软件，所述测试软件用于确定所述受测试设计的最佳工作电压；以及保护电路，阻止在所述测试软件执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号的传输。

根据本发明的其他示例性实施例，提供一种半导体装置，所述半导体装置包括：受测试设计；第一保护电路，被配置成阻止在用于确定所述受测试设计的最佳工作电压的测试期间由所述受测试设计产生的第一未定义信号；以及第二保护电路，被配置成阻止在所述测试期间由所述受测试设计产生的第二未定义信号。

根据本发明的另一些示例性实施例，提供一种测试半导体装置的方法，所述方法包括：执行测试软件，以确定受测试设计的最佳工作电压；驱动保护电路，以阻止在所述测试软件的所述执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号的传输；通过向所述受测试设计施加第一电压来执行第一测试；以及在所述受测试设计未能通过所述第一测试时通过向所述受测试设计施加第二电压来执行第二测试，所述第二电压高于所述第一电压。

根据本发明的其他示例性实施例，提供一种半导体装置，所述半导体装置包括：处理核心，被配置成执行测试软件以确定受测试设计(DUT)的最佳工作电压；以及至少一个保护电路，被配置成阻止在所述测试软件的执行期间由所述受测试设计产生的未定义信号。

通过阅读以下详细说明、图式及权利要求书，其他特征及示例性实施例可显而易见。

附图说明

通过参照附图详细阐述本发明的一些示例性实施例，本发明的以上及其它示例性实施例及特征将变得更显而易见，在附图中：

图1是根据本发明一些示例性实施例的半导体系统的方块图。

图2是根据本发明其他示例性实施例的半导体系统的方块图。

图3是根据本发明其他示例性实施例的半导体系统的方块图。