[发明专利]基带芯片高低温特性的测试方法和装置

权利要求书

1.一种基带芯片高低温特性的测试方法，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：

在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；

根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：

在第一测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；

其中，所述第一测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到6颗北斗二号BD-2卫星，6颗全球定位GPS卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤4；

所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：

在第二测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；

其中，所述第二测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5；

所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号。

4.根据权利要求2或3所述的测试方法，其特征在于，所述第一测试条件或所述第二测试条件还包括：

卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；

所述船舶的最大速度不超过30m/s，最大加速度不超过0.5m/s²，加速度的最大变化率不超过0.05m/s³。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试基带芯片的极限工作温度为低温极限工作温度或高温极限工作温度。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息之前，还包括：

确定所述温箱内的温度在极限工作温度满足热平衡达到预设时长。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述温箱的降温速率和升温速率为1℃/min。

8.一种基带芯片高低温特性的测试装置，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述装置包括：

采集模块，用于在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；

获取模块，用于根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。

9.一种基带芯片高低温特性的测试装置，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；

所述存储器存储计算机执行指令；

所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得一种基带芯片高低温特性的测试装置执行权利要求1-7任一项所述的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现权利要求1-7任一项所述的测试方法。