[发明专利]基带芯片高低温特性的测试方法和装置

说明书

本发明提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，待测试基带芯片设置于测试板上，测试板放置于温箱中，温箱设置于船舶上；该方法包括：在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。测试基带芯片在极限温度下的定位精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置。

背景技术

由于航海环境的特殊性，船载的导航设备相对普通环境下的导航设备，在可靠性、防震、防潮、防高温及防光直射等方面有更高的要求，因此，船载设备都需要经过统一、严格的测试，采用国际统一的衡量标准并达到所要求的测试结果方可安装上船。

船载导航设备的主要组成部分为基带芯片，受外界环境的变化，基带芯片的定位精度也会产生变化。在实际的应用过程中，需要基带芯片在不同环境下的定位精度达到一定要求，海上四季的温度变化大，更需要基带芯片能够在不同温度下达到所需的定位精度，因此，在基带芯片使用前需要对其进行高低温测试。但现有技术中对于基带芯片高低温特性的测试方法鲜有披露。

发明内容

本发明提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，测试了基带芯片在极限工作温度下的定位精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

本发明的第一方面提供一种基带芯片高低温特性的测试方法，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：

在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；

根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。

可选的，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：

在第一测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；

其中，所述第一测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到6颗北斗二号BD-2卫星，6颗全球定位GPS卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤4；

所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。

可选的，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：

在第二测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；

其中，所述第二测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5；

所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号。

可选的，所述第一测试条件或所述第二测试条件还包括：

卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；

所述船舶的最大速度不超过30m/s，最大加速度不超过0.5m/s²，加速度的最大变化率不超过0.05m/s³。

可选的，所述待测试基带芯片的极限工作温度为低温极限工作温度或高温极限工作温度。

可选的，在采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息之前，还包括：