[发明专利]基于FPGA的参变量表测试方法

权利要求书

1.一种基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

A）根据实际需求定制测试方案；

B）根据所述测试方案编辑参变量表，采用软件编辑器QT Table Editor对参变量表进行编辑，将若干待测芯片的待测引脚定义为信号参数；将所述信号参数与硬件测试板卡的测试资源通道相关联；设置测试条件并定义对应的字母符号；为所述信号参数对应定义一行或多行符号化的测试条件参数，将所述符号化的测试条件参数组成的表称为指令表；定义测试时间参数；定义的信号参数DUT_pin1关联硬件测试板卡的0通道的IO端口即IO pin(0)；定义的信号参数 DUT_pin2关联硬件测试板卡的IO pin(1)；定义的信号参数DUT_pin3关联硬件测试板卡的IO pin(2) ；定义的信号参数DUT_pin4关联硬件测试板卡的IO pin(3)；

C）完成参变量表编辑并保存；

D）使用所述参变量表开始测试，加载测试程序初始化时，下载参变量表数据至FPGA的存储器中；

E）执行测试，所述测试程序中调用参变量表函数指令，产生触发信号；

F）当所述触发信号有效时，所述FPGA取出其存储器中的参变量表数据；

G）对取出的所述参变量表数据进行解压缩并译码；

H）在与所述信号参数关联的所述硬件测试板卡的测试资源通道上输出测试条件，对所述信号参数对应的待测引脚进行测试。

2.根据权利要求1所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，在编辑所述参变量表时，根据测试需要定义指令行和指令段名称。

3.根据权利要求1所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，所述测试条件包括测试激励模式、激励值设置、测量档位、电流加速设置和测量模式，所述测试激励模式包括不测试、激励电压、激励电流、激励电压附带延时和激励电流附带延时，所述测量档位包括多种电压档位和多种电流档位，所述测量模式包括无测量、电压测量和电流测量。

4.根据权利要求3所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，所述符号化的测试条件参数以字母符号命名，所述字母符号代替对应的测试条件对信号参数做测试条件参数的设置，每一种所述测试条件能选择定义一种颜色以进行区分。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，为每行所述符号化的测试条件参数设置所述测试时间参数，并能选择添加自定义的描述信息，能对不同的所述信号参数设置不同的符号化的测试条件或相同的符号化的测试条件或无测试条件；所述测试时间参数的设置包括定义总测试时间、激励到测量之间的延时时间以及测量时间。

6.根据权利要求1至4任意一项所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，当不同的所述信号参数需要分时进行测试时，设置同一行中的所述符号化的测试条件参数使用附带延时的激励模式，然后调用该行进行测试；或者在多行所述指令表的每一行依照测试顺序只设置某一信号参数的符号化的测试条件参数，其他的信号参数为无测试条件设置，然后调用整个参变量表进行测试。

7.根据权利要求1至4任意一项所述的基于FPGA的参变量表测试方法，其特征在于，所述步骤E）进一步包括：

E1）加载所述参变量表；

E2）清除所有已经连接到参变量表进行的测试的测试资源通道；

E3）将所述参变量表关联所述硬件测试板卡的测试资源通道；

E4）运行指定标签页名的参变量表中的指令表，或指定运行所述指令表中的某指令行或指令段；

E5）在所述参变量表测试结束后，清除所述参变量表的工作状态，使所述硬件测试板卡从参变量表测试状态转为正式测试状态；

E6）读取所述参变量表测试的结果。