[发明专利]基于FPGA的参变量表测试方法

说明书

本发明公开了一种基于FPGA的参变量表测试方法，编辑参变量表，将待测芯片的待测引脚定义为信号参数；将信号参数与硬件测试板卡的测试资源通道关联；设置测试条件并定义字母符号；为信号参数定义一或多行符号化的测试条件参数；定义测试时间参数；加载测试程序初始化下载参变量表数据至FPGA的存储器中；执行测试，调用参变量表函数指令产生触发信号；触发信号有效时，取出参变量表数据解压缩并译码；与信号参数关联的测试资源通道输出测试条件对相应待测引脚进行测试。本发明既可以同时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试，也可以分时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试。

技术领域

本发明涉及半导体器件自动测试领域，特别涉及一种基于FPGA的参变量表测试方法。

背景技术

在半导体测试机行业，需要快速、准确、方便的对被测电路执行测试。现有技术可以实现对多个待测引脚同时设置相同的激励参数和模式或测量模式，同时进行测试；或者分别设置不同的激励参数和模式或测量模式，分时进行测试；不能够同时设置不同的激励参数和模式或者不同的测量模式同时进行测试，并且不提供符号化的参数设置。由此可见，对于多个芯片引脚的测试，对于不同引脚需要进行不同激励模式和激励参数的设置，或需要设置不同的测量模式以及测试档位的情况，现有的测试方法无法实现同时测试，只能进行分时测试，通过逐条编写程序指令区分设置不同的激励模式和激励参数，以及区分设置不同的测量模式及测量档位，如此大量的测试程序的编写不仅冗余不易检查，影响阅读，还容易在编写时发生漏测或一脚多测的问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种既可以同时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试，也可以分时进行多个不同芯片引脚具有相同测试条件设置或不同测试条件设置的测试的基于FPGA的参变量表测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种基于FPGA的参变量表测试方法，包括如下步骤：

A)根据实际需求定制测试方案；

B)根据所述测试方案编辑参变量表，将若干待测芯片的待测引脚定义为信号参数；将所述信号参数与硬件测试板卡的测试资源通道相关联；设置测试条件并定义对应的字母符号；为所述信号参数对应定义一行或多行符号化的测试条件参数，将所述符号化的测试条件参数组成的表称为指令表；定义测试时间参数；

C)完成参变量表编辑并保存；

D)使用所述参变量表开始测试，加载测试程序初始化时，下载参变量表数据至FPGA的存储器中；

E)执行测试，所述测试程序中调用参变量表函数指令，产生触发信号；

F)当所述触发信号有效时，所述FPGA取出其存储器中的参变量表数据；

G)对取出的所述参变量表数据进行解压缩并译码；

H)在与所述信号参数关联的所述硬件测试板卡的测试资源通道上输出测试条件，对所述信号参数对应的待测引脚进行测试。

在本发明所述的基于FPGA的参变量表测试方法中，在编辑所述参变量表时，根据测试需要定义指令行和指令段名称。

在本发明所述的基于FPGA的参变量表测试方法中，所述参变量表函数指令包括tableconnect函数、tableload函数、tablerun函数、tablepinclear函数、tablerunstop函数和tableread函数。

在本发明所述的基于FPGA的参变量表测试方法中，所述测试条件包括测试激励模式、激励值设置、测量档位、电流加速设置和测量模式，所述测试激励模式包括不测试、激励电压、激励电流、激励电压附带延时和激励电流附带延时，所述测量档位包括多种电压档位和多种电流档位，所述测量模式包括无测量、电压测量和电流测量。