[发明专利]一种序列检测方法、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810123306.4 申请日: 2018-02-07
公开(公告)号: CN108491318A 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 顾中磊;黄佳琳 申请(专利权)人: 深圳市洛酷信息科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F7/58
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 齐则琳;张雷
地址: 518000 广东省深圳市福田区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试策略 存储介质 电子设备 序列检测 测试包 序列选择 随机性 测试 二进制序列 测试效率 初级测试 等级量化 高级测试 冗余测试 测序 去除 检测
【权利要求书】:

1.一种序列检测方法,其特征在于,包括:

获取待测序列,所述待测序列为二进制序列;

根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序;

根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列进行测试,以判断所述待测序列的随机性。

2.根据权利要求1所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序包括:

根据所述待测序列检验所述测试包中的测试策略的独立性;

根据所述独立性选择测试包中的测试策略。

3.根据权利要求2所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序还包括:

根据所述待测序列计算所选择的测试策略的信息增益;

根据所述信息增益确定所选择的测试策略的执行顺序。

4.根据权利要求1所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列进行测试,以判断所述待测序列的随机性包括:

根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行初级测试;

若所述待测序列未通过所述初级测试,则终止测试。

5.根据权利要求4所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行初级测试之后还包括:

若所述待测序列通过所述初级测试,则根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行中级测试;

若所述待测序列未通过所述中级测试,则终止测试。

6.根据权利要求5所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行中级测试之后还包括:

若所述待测序列通过所述中级测试,则根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行高级测试。

7.根据权利要求2所述的序列检测方法,其特征在于,所述根据所述待测序列检验所述测试包中的测试策略的独立性包括:

选取预设长度和预设数量的待测序列;

根据选取的待测序列,采用主成分分析方法和自编码降维方法分析所述测试策略的独立性。

8.根据权利要求3所述的序列检测方法,其特征在于,所述计算所选择的测试策略的信息增益之前还包括:

采用相关系数法和方差选择法去除相关系数和方差过小的测试策略。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器;存储器;以及程序,其中所述程序被存储在所述存储器中,并且被配置成由处理器执行,所述程序包括用于执行权利要求1-8任意一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行如权利要求1-8任意一项所述的方法。

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