[发明专利]一种序列检测方法、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种序列检测方法，包括：获取待测序列，待测序列为二进制序列；根据待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序；根据所选择的测试策略和执行顺序对待测序列进行测试，以判断待测序列的随机性。本发明还公开了一种电子设备及存储介质。本发明提供的序列检测方法、电子设备及存储介质，根据待测序列选择测试包中的测试策略和执行顺序，去除冗余测试策略，选择最优测试顺序对序列进行检测，从而提高测试效率。将测试策略分为初级测试包、中级测试包和高级测试包，从而可以对待测序列进行等级量化。

技术领域

本发明涉及统计领域，尤其涉及一种序列检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术

目前，随机序列在计算机软件和安全领域使用广泛。密码应用、互联网通信、物联网设施等均需要高质量的随机数，用于密钥生成、数字签名和认证协议等，有缺陷的随机数序列可能导致极大的安全隐患。

实际的随机数序列常常通过对一些物理过程进行模拟来生成，如鼠标当前移动的坐标位置，电路中产生的噪声信号，计算机系统的行为如硬盘访问和网络请求等来生成随机数。使用伪随机数发生器来生成一些尽可能随机的伪随机数序列是另一种随机数序列的生成方式。这两种方式都存在一定的缺陷，前者可能看似随机实际上隐含了一定的规律性，后者可生成具有周期行为的序列。因此，能检测出上述缺陷的测试策略变得十分重要。

随机测试的原理是检测序列的特定模式，若某一模式以反常概率发生，则认为待测序列未通过该模式对应的统计随机测试。统计随机测试数量繁多，因此通常会从众多的测试中选择子集组成测试包，该测试包需要尽可能必要的检测序列的随机属性。目前最常用的随机测试包有美国国家标准与技术研究院(NIST)发布的SP 800-22标准和我国的GM/T0005-2012《随机性检测规范》等。

上述随机测试包采用的序列检测方法在测试过程中存在如下不足：未充分考虑测试的特征属性和测试间独立性对测试执行顺序的影响；未考虑测试执行顺序对测试效率的影响，导致测试的执行存在冗余；未考虑待测序列的长度和测试需求对测试选择的影响，测试效率较低。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的之一在于提供一种序列检测方法，以解决现有序列检测方法在测试过程中存在冗余、测试效率低的问题。

本发明的目的之二在于提供一种电子设备，以解决现有序列检测方法在测试过程中存在冗余、测试效率低的问题。

本发明的目的之一采用如下技术方案实现：

一种序列检测方法，包括：

获取待测序列，所述待测序列为二进制序列；

根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序；

根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列进行测试，以判断所述待测序列的随机性。

进一步地，所述根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序包括：

根据所述待测序列检验所述测试包中的测试策略的独立性；

根据所述独立性选择测试包中的测试策略。

进一步地，所述根据所述待测序列选择测试包中的测试策略和所选择的测试策略的执行顺序还包括：

根据所述待测序列计算所选择的测试策略的信息增益；

根据所述信息增益确定所选择的测试策略的执行顺序。

进一步地，所述根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列进行测试，以判断所述待测序列的随机性包括：

根据所选择的测试策略和执行顺序对所述待测序列执行初级测试；