[发明专利]一种可重入函数的测试方法有效
申请号: | 201810124234.5 | 申请日: | 2018-02-07 |
公开(公告)号: | CN108319553B | 公开(公告)日: | 2022-04-19 |
发明(设计)人: | 方加强;温耀军 | 申请(专利权)人: | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 彭俊垣 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可重入 函数 测试 方法 | ||
1.一种可重入函数的测试方法,其特征在于:包括以下步骤:
1)、对模块进行颗粒度划分,将已经划分的颗粒度作为一个测试小单元;
2)、对所述测试小单元进行优化形成一个可重入函数;
3)、对所述可重入函数再进行颗粒度划分,将划分的颗粒度作为小单元;
所述小单元被限定为:每个小单元模型Y=F(x1,x2,x3,…,xn)都包含一个关键接口,且该关键接口的特征在于,对于小单元外部,只要该关键接口不变,那么在小单元内其它的函数接口发生改变,不会影响小单元的测试;
4)、对每一个所述小单元进行单元测试。
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