[发明专利]一种可重入函数的测试方法

说明书

本发明涉及嵌入式软件开发技术领域，尤其涉及一种可重入函数的测试方法，包括以下步骤：对模块进行颗粒度划分，将已经划分的颗粒度作为一个测试小单元；对所述测试小单元进行优化形成一个可重入函数；对所述可重入函数再进行颗粒度划分，将划分的颗粒度作为小单元；对每一个所述小单元进行单元测试。本发明的发明目的在于提供一种可重入函数的测试方法，采用本发明提供的技术方案解决了现有可重入函数测试方法测试工作量大的技术问题。

技术领域

本发明涉及嵌入式软件开发技术领域，尤其涉及一种可重入函数的测试方法。

背景技术

在嵌入式软件开发中，在开始模块的单元测试前，需要对模块进行优化，这样会产生大量的可重入函数，对于可重入函数的测试，也成为被测模块单元测试的重要一环。

目前被测模块中可重入函数的测试采用遍历所有可重入函数，单独对每一个可重入函数进行测试，存在以下技术问题：单独对每一个可重入函数进行单元测试，导致测试工作量大；当可重入函数改变时，需要重新对改变的可重入函数进行单元测试验证，加重测试工作量。

发明内容

本发明的发明目的在于提供一种可重入函数的测试方法，采用本发明提供的技术方案解决了现有可重入函数测试方法测试工作量大的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种可重入函数的测试方法，包括以下步骤：

1)、对模块进行颗粒度划分，将已经划分的颗粒度作为一个测试小单元；

2)、对所述测试小单元进行优化形成一个可重入函数；

3)、对所述可重入函数再进行颗粒度划分，将划分的颗粒度作为小单元；

4)、对每一个所述小单元进行单元测试。

在步骤1中，对模块进行颗粒度划分，优选的，所述模块的具体实现如下：Y＝F(x1，x2，x3，…，xn)。

在步骤3中将已经划分的颗粒度作为小单元，优选的，所述小单元包括测试用例模型，以及关键接口。

由上可知，应用本发明可以得到以下有益效果：可以极大地降低测试工作量，提高测试效率；可以解决因可重入函数改变时导致的重复测试验证技术问题；可以反向提高研发的模块设计质量，降低模块的维护成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对本发明实施例或现有技术的描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有软件测试方法对单独函数进行单元测试的模型图；

图2本发明实施例对模块中的小单元进行单元测试的模型图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

目前被测模块中可重入函数的测试采用遍历所有可重入函数，存在测试工作量大的问题。

在目前可重入函数的测试方法中，在对模块进行单元测试前，需要对模块进行颗粒度的划分思路；对于已经划分的颗粒度作为一个测试小单元，该小单元所具有的测试用例模型，以及该模型对小单元具有的关键接口特征要求。

如图1所示为在软件模块中对单独函数进行单元测试的模型图。