[发明专利]等离子体-质谱分析系统的工作方法

权利要求书

1.等离子体-质谱分析系统的工作方法，所述工作方法为：

(A1)在炬管点火前，拍摄所述炬管和线圈的图像；

根据所述图像去调整所述炬管和线圈的相对位置，使得所述炬管的中心轴线和所述线圈围成区域的中心轴线重合；

(A2)在所述炬管点火后，拍摄炬焰和线圈的图像；

根据炬焰和线圈的图像去调整所述炬焰的位置，使得等离子体-质谱分析系统输出正常的响应值。

2.根据权利要求1所述的等离子体-质谱分析系统的工作方法，其特征在于：在步骤(A1)中，同时进行泵排空、吹扫管路和关闭雾化工作。

3.根据权利要求1所述的等离子体-质谱分析系统的工作方法，其特征在于：在步骤(A2)中，分析炬焰的形状，确定出炬焰的有效区域；在所述有效区域内，根据折中查找法得出炬焰和进样锥的锥孔的最优位置。

4.根据权利要求3所述的等离子体-质谱分析系统的工作方法，其特征在于：利用炬焰与线圈的相对位置，得出炬焰的有效区域。

5.根据权利要求4所述的等离子体-质谱分析系统的工作方法，其特征在于：所述炬焰的有效区域为：

X∈[X₁，X₂]：d₁-4＜X₁＜X₂＜4+d₂；

Y∈[Y₁，Y₂]：d₃-4＜Y₁＜Y₂＜4+d₄；

d₁是炬焰的最左边到左侧线圈的距离，d₂是炬焰的最右边到右侧线圈的距离，d₃是炬焰的最上边到上线圈的距离，d₄是炬焰的最下边到下侧线圈的距离。

6.根据权利要求1所述的等离子体-质谱分析系统的工作方法，其特征在于：在步骤(A1)中，位置的调整方式为：

根据采集图像，对图像进行分析，得出炬管玻璃体与线圈左侧、右侧的距离分别为S₁、S_r，同时得出炬管玻璃体与线圈上侧、下侧的距离分别S_u、S_d；得出炬管与线圈的左右侧距离均为上下侧距离均为