[发明专利]辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种辐射杂散的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

控制待测设备进行三维3D旋转，实时采集所述待测设备的辐射杂散信号强度，得到所述待测设备的3D辐射杂散信号强度；

利用所述3D辐射杂散信号强度确定所述待测设备是否辐射杂散超标；

确定所述待测设备辐射杂散超标之后还包括：

利用所述3D辐射杂散信号强度确定最大信号强度所处的杂散路径；

利用所述杂散路径确定所述待测设备辐射杂散超标的原因；

所述控制待测设备进行三维3D旋转，实时采集所述待测设备的辐射杂散信号强度，得到所述待测设备的3D辐射杂散信号强度，包括：

设置第一方向和第二方向，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

控制待测设备绕所述第一方向旋转360度角，且在旋转的过程中，每间隔预设角度采集一次待测设备的辐射杂散信号强度，得到第一方向上的第一信号强度；

继续控制待测设备在第二方向上旋转360度角，每间隔预设角度采集待测设备的辐射杂散信号强度，得到第二方向上的第二信号强度，其中第一信号强度及第二信号强度构成了所述3D辐射杂散信号强度；

所述利用所述3D辐射杂散信号强度确定最大信号强度所处的杂散路径，包括：

确定该最大信号强度出现的目标方向，并获取在绕该目标方向旋转时，以最大信号强度所对应的角度为中心，相邻的多个角度构成的连线即为杂散路径。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述3D辐射杂散信号强度确定所述待测设备是否辐射杂散超标，包括：

从所述3D辐射杂散信号强度中提取最大信号强度；

若所述最大信号强度大于预设超标阈值，则确定所述待测设备辐射杂散超标；

若所述最大信号强度小于或等于所述预设超标阈值，则确定所述待测设备辐射杂散未超标。

3.一种辐射杂散的测试装置，其特征在于，所述装置包括：

控制模块，用于控制待测设备进行三维3D旋转，实时采集所述待测设备的辐射杂散信号强度，得到所述待测设备的3D辐射杂散信号强度，具体的，用于控制待测设备绕第一方向旋转360度角，且在旋转的过程中，每间隔预设角度采集一次待测设备的辐射杂散信号强度，得到第一方向上的第一信号强度，且控制待测设备在第二方向上旋转360度角，每间隔预设角度采集依次待测设备的辐射杂散信号强度，得到第二方向上的第二信号强度，其中，第一方向与第二方向互相垂直，第一信号强度及第二信号强度构成了所述3D辐射杂散信号强度；

确定模块，用于利用所述3D辐射杂散信号强度确定所述待测设备是否辐射杂散超标；

第三确定模块，用于利用所述3D辐射杂散信号强度确定最大信号强度所处的杂散路径，具体的，用于确定该最大信号强度出现的目标方向，并获取在绕该目标方向旋转时，以最大信号强度所对应的角度为中心，相邻的多个角度构成的连线即为杂散路径；

第四确定模块，用于利用所述杂散路径确定所述待测设备辐射杂散超标的原因。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述确定模块包括：

提取模块，用于从所述3D辐射杂散信号强度中提取最大信号强度；

第一确定模块，用于若所述最大信号强度大于预设超标阈值，则确定所述待测设备辐射杂散超标；

第二确定模块，用于若所述最大信号强度小于或等于所述预设超标阈值，则确定所述待测设备辐射杂散未超标。

5.一种电子装置，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上且在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1或2所述的辐射杂散的测试方法中的各个步骤。

6.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1或2所述的辐射杂散的测试方法中的各个步骤。