[发明专利]辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质。该测试方法包括：控制待测设备进行3D旋转，实时采集待测设备的辐射杂散信号强度，得到该待测设备的3D辐射杂散信号强度，利用该待测设备的3D辐射杂散信号强度确定待测设备是否辐射杂散超标。相对于现有技术，通过控制待测设备进行3D旋转，使得能够获取到待测设备在旋转到各个角度的辐射杂散信号强度，得到3D辐射杂散信号强度，由于该3D辐射杂散信号强度能够全面的反映待测设备的辐射杂散情况，因此利用该3D辐射杂散信号强度确定辐射杂散是否超标具有非常高的准确性。

技术领域

本发明涉及无线产品检测技术领域，尤其涉及一种辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质。

背景技术

辐射杂散(Radiated Spurious Emission)测试是手机在各国认证中的一个重要的测试项目，不管是第三代合作伙伴计划(3rd Generation Partnership Project，3GPP)还是美国联邦通信委员会(Federal Communications Commission，FCC)认证的北美标准对这一项都是严格要求，同时辐射杂散是通信产品国际、国内认证中比较重要的测试项目之一，也是国家质检部门抽查时最主要的测试指标之一。

现有技术中，对手机进行辐射杂散测试的方法存在局限性，辐射杂散是否超标的判断的准确性低。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提供一种辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质，可以解决现有技术中测试辐射杂散是否超标的准确性低的问题。

为实现上述目的，本发明实施例第一方面提供一种辐射杂散的测试方法，包括：

控制待测设备进行三维3D旋转，实时采集所述待测设备的辐射杂散信号强度，得到所述待测设备的3D辐射杂散信号强度；

利用所述3D辐射杂散信号强度确定所述待测设备是否辐射杂散超标。

为实现上述目的，本发明实施例第二方面提供一种辐射杂散的测试装置，包括：

控制模块，用于控制待测设备进行三维3D旋转，实时采集所述待测设备的辐射杂散信号强度，得到所述待测设备的3D辐射杂散信号强度；

确定模块，用于利用所述3D辐射杂散信号强度确定所述待测设备是否辐射杂散超标。

为实现上述目的，本发明实施例第三方面提供一种电子装置，包括：存储器、处理器及存储在存储器上且在处理器上运行的计算机程序，该处理器执行计算机程序时，实现如第一方面的辐射杂散的测试方法中的各个步骤。

为实现上述目的，本发明实施例第四方面提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，实现如第一方面的辐射杂散的测试方法中的各个步骤。

本发明实施例提供一种辐射杂散的测试方法，包括：控制待测设备进行三维(Three Dimensions，3D)旋转，实时采集待测设备的辐射杂散信号强度，得到该待测设备的3D辐射杂散信号强度，利用该待测设备的3D辐射杂散信号强度确定待测设备是否辐射杂散超标。相对于现有技术，通过控制待测设备进行3D旋转，使得能够获取到待测设备在旋转到各个角度的辐射杂散信号强度，得到3D辐射杂散信号强度，由于该3D辐射杂散信号强度能够全面的反映待测设备的辐射杂散情况，因此利用该3D辐射杂散信号强度确定辐射杂散是否超标具有非常高的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种电子装置的结构框图；