[发明专利]一种基于SOI工艺的压控振荡器电路在审

专利信息
申请号: 201810146296.6 申请日: 2018-02-12
公开(公告)号: CN108462471A 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 陈卓俊;董业民;单毅 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H03B5/32 分类号: H03B5/32
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪;杨希
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 延迟单元 负输出端 负输入端 延迟模块 压控振荡器电路 输出缓冲单元 偏置单元 依次连接 差分输出信号 电压信号 相位噪声 正输出端 抗辐射 外围
【权利要求书】:

1.一种基于SOI工艺的压控振荡器电路,其特征在于,所述电路包括:依次连接的偏置单元、四级差分延迟模块以及输出缓冲单元,其中,

所述偏置单元接收一外围输入的电压信号,并向所述四级差分延迟模块提供一偏置电压;

所述四级差分延迟模块包括四个依次连接的延迟单元,且每个所述延迟单元具有正、负输入端和正、负输出端,其中,第一个所述延迟单元的正、负输入端分别与第四个所述延迟单元的负、正输出端连接,其正、负输出端分别与第二个所述延迟单元的正、负输入端连接;第三个所述延迟单元的正、负输入端分别与第二个所述延迟单元的正、负输出端连接,其正、负输出端分别与第四个所述延迟单元的正、负输入端连接;

所述输出缓冲单元的正、负输入端分别与第四个所述延迟单元的正、负输出端连接,其正、负输出端分别产生差分输出信号。

2.根据权利要求1所述的基于SOI工艺的压控振荡器电路,其特征在于,所述偏置单元包括:

第一PMOS管,其源极与一电源相连,其漏极与第二PMOS管的源极相连,其栅极与所述第二PMOS管的栅极相连并产生所述偏置电压;

所述第二PMOS管的漏极与第一NMOS管的漏极相连;

所述第一NMOS管的栅极与第二NMOS管的栅极相连并接收所述电压信号,其源极与所述第二NMOS管的漏极相连;

所述第二NMOS管的源极接地。

3.根据权利要求1所述的基于SOI工艺的压控振荡器电路,其特征在于,所述延迟单元包括:

第三PMOS管,其源极与第四PMOS管的源极相连至一电源,其栅极与第五PMOS管的栅极相连并接收所述偏置电压,其漏极与所述第五PMOS管的源极相连;

所述第四PMOS管的栅极与第六PMOS管的栅极相连至所述延迟单元的正输出端,其漏极与所述第六PMOS管的源极相连;

所述第五PMOS管的漏极与所述第六PMOS管的漏极相连至所述延迟单元的负输出端;

第七PMOS管,其源极与第八PMOS管的源极相连至所述电源,其栅极与第九PMOS管的栅极相连并接收所述偏置电压,其漏极与所述第九PMOS管的源极相连;

所述第八PMOS管的栅极与第十PMOS管的栅极相连至所述延迟单元的负输出端,其漏极与所述第十PMOS管的源极相连;

所述第九PMOS管的漏极与所述第十PMOS管的漏极相连至所述延迟单元的正输出端;

第三NMOS管,其漏极与第四NMOS管的漏极相连至所述延迟单元的负输出端,其栅极与第五NMOS管的栅极相连至所述延迟单元的正输入端,其源极与所述第五NMOS管的漏极相连;

所述第四NMOS管的栅极与第六NMOS管的栅极相连至所述延迟单元的正输出端,其源极与所述第六NMOS管的漏极相连;

所述第五NMOS管的源极与所述第六NMOS管的源极相连至地;

第七NMOS管,其漏极与第八NMOS管的漏极相连至所述延迟单元的正输出端,其栅极与第九NMOS管的栅极相连至所述延迟单元的负输入端,其源极与所述第九NMOS管的漏极相连;

所述第八NMOS管的栅极与第十NMOS管的栅极相连至所述延迟单元的负输出端,其源极与所述第十NMOS管的漏极相连;

所述第九NMOS管的源极与所述第十NMOS管的源极相连至地。

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