[发明专利]芯片封装结构在审
申请号: | 201810146832.2 | 申请日: | 2018-02-12 |
公开(公告)号: | CN109904126A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 林宥纬 | 申请(专利权)人: | 晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 汤在彦 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基板 翘曲抑制 管芯 芯片封装结构 封装胶 覆盖基板 | ||
本发明提供一种芯片封装结构,包括一基板、一管芯、多个翘曲抑制器以及一封装胶。基板具有一表面,管芯设置于基板的表面上,翘曲抑制器设置于基板的表面的至少一角落,且封装胶覆盖基板的表面、管芯与翘曲抑制器。
技术领域
本发明是关于一种芯片封装结构,尤指一种具有翘曲抑制器的芯片封装结构。
背景技术
半导体封装(semiconductor package)是一种用以将一个或多个管芯密封为一体的技术,以提供管芯一定的冲击或摩擦的保护。图1绘示传统芯片封装结构的剖视示意图。如图1所示,传统芯片封装结构10中密封管芯14的封装胶18与承载管芯14的基板12需彼此密合,以提供管芯14足够的保护。然而,由于芯片封装结构10中封装胶18与基板12的热膨胀系数并不相同,因此在经过例如将芯片封装结构10固晶在其他元件上时的高温制程后,芯片封装结构10会产生翘曲现象导致空焊或桥接,使芯片封装结构10内的管芯14受损或运作不正常。
发明内容
本发明的目的之一在于提供一种芯片封装结构,以抑制因高温制程而产生的翘曲现象。
本发明的一实施例提供一种芯片封装结构,包括一基板、一管芯、多个翘曲抑制器以及一封装胶。基板具有一表面,管芯设置于基板的表面上,翘曲抑制器设置于基板的表面的至少一角落,且封装胶覆盖基板的表面、管芯与翘曲抑制器。
附图说明
为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明,其中:
图1绘示传统芯片封装结构的剖视示意图。
图2绘示本发明一实施例的芯片封装结构的俯视示意图。
图3绘示沿着图2的剖视线A-A’的剖视示意图。
图4绘示本发明一变化实施例的芯片封装结构的剖视示意图。
图5绘示本发明另一变化实施例的芯片封装结构的俯视示意图。
图6绘示本发明又一变化实施例的芯片封装结构的俯视示意图。
图7绘示本发明再一变化实施例的芯片封装结构的俯视示意图。
图8绘示本发明又再一变化实施例的芯片封装结构的剖视示意图。
符号说明:
10、100、300、400、500 芯片封装结构
12、102 基板
102a 上表面
102b 下表面
14、104 管芯
106、206、306、406、506 翘曲抑制器
18、108 封装胶
110、122 接垫
112 导电垫
114 线路
116 保护层
118 接合导线
120 凸块
具体实施方式
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