[发明专利]探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备在审
申请号: | 201810162583.6 | 申请日: | 2018-02-26 |
公开(公告)号: | CN109254179A | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 卢昱呈;林芳旭 | 申请(专利权)人: | 万润科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/073 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 闻卿 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 探针装置 延伸部 电子元件检测 探针模块 针身部 滑槽 弹性件 间歇性旋转 同一垂直线 驱动模块 特性检测 向上延伸 移动机构 顶撑 滑移 连动 面平 切齐 身部 转盘 排序 搬运 驱动 压缩 | ||
1.一种探针,包括:
一本体部;
一延伸部,其由该本体部向上延伸;
一针身部,设于延伸部上方;
该本体部、该延伸部与该针身部,三者分别具有不同的水平宽度,宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部;
该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面,三者皆切齐同一条垂直线上。
2.如权利要求1所述的探针,其中,该本体部凸设有一导引部于其一侧面,该导引部具有矩形截面且导引部的一端面平齐该本体部的一端面,两者皆切齐同一条水平线上。
3.如权利要求2所述的探针,其中,该导引部上设有一导接件用以与导线连接。
4.如权利要求1所述的探针,其中,该延伸部的水平宽度向上递减。
5.如权利要求1所述的探针,其中,该延伸部上设有一导接孔用以与导线连接。
6.如权利要求1所述的探针,其中,该针身部上设有一呈矩形的接触面。
7.如权利要求1所述的探针,其中,该本体部、该延伸部与该针身部,三者分别具有不同的垂直高度,高度由高至低的排序为该本体部>该延伸部>该针身部。
8.一种探针模块,使用如权利要求1至7中任一权利要求所述的探针,包括:
数个支探针;
一罩壳,设有数个滑槽,该数个支探针可分别在对应的滑槽内滑移;
一底座,设于该罩壳下方,该底座上设有一支撑座;
数个支弹性件,设于该支撑座上,各弹性件的一端与该支撑座接触,另一端顶撑在对应的探针的下方。
9.一种探针装置,使用如权利要求8所述的探针模块,包括:
一座架,设有一移动区间;
一移动机构,设于该座架的该移动区间内,该移动机构设有一移动部与一支撑部;
一驱动模块,设于该座架下方,使移动机构在该移动区间内上、下往复移动;
该探针模块设于该支撑部上,受移动机构的连动而上、下往复移动。
10.一种电子元件检测方法,使用如权利要求9所述的探针装置,包括:
使数个支探针各在对应的滑槽内滑移,并各受滑槽内对应的弹性件顶撑;
在电子元件受一间歇性旋转的转盘搬运至探针装置上方时,移动机构受驱动模块驱动而连动探针模块位移;
使数个支探针在接触电子元件进行特性检测时,数个支探针各在对应的滑槽内位移压缩对应的弹性件。
11.一种电子元件检测设备,包括:用以执行如权利要求10所述的电子元件检测方法的设备。
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