[发明专利]探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备

说明书

一种探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，该探针包括：一本体部；一由该本体部向上延伸的延伸部；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部；该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面，三者皆切齐同一垂直线上；该电子元件检测方法包括：使数个支探针各在对应滑槽内滑移并各受滑槽内对应弹性件顶撑；在电子元件受一间歇性旋转的转盘搬运至探针装置上方时，移动机构受驱动模块驱动而连动探针模块位移；使数个支探针在接触电子元件进行特性检测时，数个支探针各在对应滑槽内位移压缩对应弹性件。

技术领域

本发明有关于一种探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，尤指一种可减少成本的探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备。

背景技术

一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分类的程序来进行包装或分类，专利号第M452344号「电子元件检测装置」已揭露一种用于进行高电压、高电流与高频率检测的探针装置，其探针构造设有一呈片状的探针、一呈条状且较粗、短的探测杆与一连结在两者之间呈片状且较细、长的力臂；该探测杆设于该探针的斜上方，该力臂由探针的上表面向上斜向延伸至探测杆底部，使力臂的下表面与探针的上表面间的夹角为锐角，且力臂的下表面与探针的上表面间形成一镂空的缓冲区；在探测杆与电子元件接触进行检测时，探测杆因承受了电子元件的重量而对倾斜的力臂施加向下的压力，使力臂向下弯曲产生些微变形而达到缓冲的效果。

发明内容

习知探针装置在对电子元件进行检测时，是利用力臂来达到缓冲的效果，但因电子元件的重量极为轻巧，故力臂的下表面不仅须与探针的上表面形成锐角，且力臂须有一定程度的长度方能确保电子元件的重量可使力臂产生些微变形而达到缓冲的效果；此种探针构造的探测杆通常位于探针的斜上方，如此会造成探针构造的整体水平宽度增加，又因电子元件通常极为微小，一颗电子元件又至少须同时以数个支探针进行检测，故探针在探针装置内的空间配置变得较为复杂，常令设计者煞费苦心的进行空间规画，造成制造成本的增加；此外，此种探针构造通常为一体成型，相同的力臂不能对应于不同重量的电子元件，故在对不同重量的电子元件进行检测时，设计者亦须重新设计力臂可承载的重量且操作者须配合更换不同的新探针构造，如此亦造成使用成本的增加。

因此，本发明的目的在于提供一种可减少成本的探针。

本发明的另一目的在于提供一种使用本发明目的所提供的探针的探针模块。

本发明的又一目的在于提供一种使用本发明另一目的所提供的探针模块的探针装置。

本发明的再一目的在于提供一种使用本发明又一目的所提供的探针装置的电子元件检测方法。

本发明的又再一目的在于提供一种使用本发明再一目的所提供的电子元件检测方法的电子元件检测设备。

依据本发明目的的探针，包括：一本体部；一延伸部，其由该本体部向上延伸；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>该延伸部>该针身部；该本体部的一端面平齐该延伸部的一端面与该针身部的一端面，三者皆切齐同一条垂直线上。

依据本发明另一目的的探针模块，使用所述探针，包括：数个支探针；一罩壳，设有数个滑槽，该数个支探针可分别在对应的滑槽内滑移；一底座，设于该罩壳下方，该底座上设有一支撑座；数个支弹性件，设于该支撑座上，各弹性件的一端与该支撑座接触，另一端顶撑在对应的探针的下方。