[发明专利]一种大斜度井测井曲线的校正方法

权利要求书

1.一种大斜度井测井曲线的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、选取区域标准层，并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值；

S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式；

S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值，并获取大斜度井标准层密度的理论值；

S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值；

S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量，并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量；

S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S1中，选取直井标准层的至少5个层段进行读值，补偿中子值和密度值选取每个层段的补偿中子值和密度值的平均值，深度值选取每个层段的中部深度值。

3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S2中，直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式为：

NPHI＝A*DEPTH+B

式中，NPHI为补偿中子值，DEPTH为深度值，A和B为常数。

4.根据权利要求3所述的校正方法，其特征在于，步骤S2中，直井标准层的密度值随深度变化的关系式为：

RHOB＝C*DEPTH+D

式中，RHOB为密度值，DEPTH为深度值，C和D为常数。

5.根据权利要求4所述的校正方法，其特征在于，步骤S3包括：

S31、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度；

S32、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式，获取大斜度井标准层补偿中子的理论值；

S33、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的密度值随深度变化的关系式，获取大斜度井标准层密度的理论值。

6.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S4中大斜度井标准层补偿中子的实际测量值的采样间隔、密度的实际测量值的采样间隔与步骤S3中测量深度值的采样间隔相同。

7.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S5中，大斜度井斜井段补偿中子的校正量为：

ΔNPHI＝＝NPHI1-NPHI2

式中，ΔNPHI为大斜度井斜井段补偿中子的校正量，NPHI1为大斜度井斜井段补偿中子的理论值，NPHI2为大斜度井斜井段补偿中子的实际测量值。

8.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S5中，大斜度井斜井段密度的校正量为：

ΔRHOB＝RHOB1-RHOB2

式中，ΔRHOB为大斜度井斜井段密度的校正量，RHOB1为大斜度井斜井段密度的理论值，RHOB2为大斜度井斜井段密度的实际测量值。

9.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S6中，将大斜度井斜井段补偿中子的实际测量值加上补偿中子的校正量ΔNPHI，以完成对大斜度井斜井段的补偿中子值的校正。

10.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S6中，将大斜度井斜井段密度的实际测量值加上密度的校正量ΔRHOB，以完成对大斜度井斜井段的密度值的校正。