[发明专利]一种大斜度井测井曲线的校正方法有效
申请号: | 201810186434.3 | 申请日: | 2018-03-07 |
公开(公告)号: | CN110244385B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 夏冬冬;李冀秋;王静;夏东领 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01V13/00 | 分类号: | G01V13/00;G01V5/04 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;何娇 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 斜度 测井 曲线 校正 方法 | ||
本发明公开了大斜度井测井曲线的校正方法,包括以下步骤:获取区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值;建立直井标准层的补偿中子值和密度值随深度变化的关系式;获取大斜度井标准层补偿中子的理论值以及密度的理论值;获取大斜度井标准层补偿中子以及密度的实际测量值;获取大斜度井斜井段补偿中子以及密度的校正量;对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。本发明提高了大斜度井中补偿中子曲线和密度曲线环境校正的精度,进而可以进一步指导油田的勘探开发工作。
技术领域
本发明涉及油气勘探开发技术领域,尤其是涉及一种大斜度井测井曲线的校正方法。
背景技术
随着油田勘探开发技术的发展,大斜度井在复杂油气藏的应用日益广泛。实际应用中,由于受重力或井轨迹的影响,大斜度井斜井段中的中子、密度测井仪器易发生推靠井壁不紧密的现象,造成补偿中子和密度测井曲线的录取质量不高,和直井的测井响应特征存在较大差异,进而影响了大斜度井中储层孔隙度计算和测井储层评价的精度。而如何快速、准确地进行补偿中子、密度曲线校正,一直是大斜度井常规测井曲线环境校正的难题。
标准层法是目前进行补偿中子、密度等常规测井曲线校正的常用方法。该方法多用于直井常规测井曲线校正,前提是认为在工区范围内标准层的补偿中子、密度测井响应值是相同的,不会随着不同井标准层深度的差异而变化,而忽略了地层压实作用对标准层地层性质的影响,即不同深度的标准层应该具有不同的测井响应值,特别是在岩石成岩较弱的地层,如果不考虑地层深度的变化对测井响应值的影响,将极大影响测井曲线校正的精度,给储层孔隙度计算和测井储层评价带来很大困难。
发明内容
针对现有技术中所存在的上述技术问题,本发明提出了一种大斜度井测井曲线的校正方法,包括以下步骤:
S1、选取区域标准层,并获取所述区域标准层内直井标准层的补偿中子值、密度值和深度值;
S2、建立直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式,并建立直井标准层的密度值随深度变化的关系式;
S3、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度,获取大斜度井标准层补偿中子的理论值,并获取大斜度井标准层密度的理论值;
S4、获取大斜度井标准层补偿中子的实际测量值以及密度的实际测量值;
S5、根据大斜度井标准层补偿中子的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段补偿中子的校正量,并根据大斜度井标准层密度的理论值和实际测量值获取大斜度井斜井段密度的校正量;
S6、对大斜度井斜井段的补偿中子曲线和密度曲线进行校正。
优选地,步骤S1中,选取直井标准层的至少5个层段进行读值,补偿中子值和密度值选取每个层段的补偿中子值和密度值的平均值,深度值选取每个层段的中部深度值。
优选地,步骤S2中,直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式为:
NPHI=A*DEPTH+B
式中,NPHI为补偿中子值,DEPTH为深度值,A和B为常数。
优选地,步骤S2中,直井标准层的密度值随深度变化的关系式为:
RHOB=C*DEPTH+D
式中,RHOB为密度值,DEPTH为深度值,C和D为常数。
优选地,步骤S3包括:
S31、将大斜度井标准层内测量深度校正到垂直深度;
S32、根据获取的所述垂直深度和所述直井标准层的补偿中子值随深度变化的关系式,获取大斜度井标准层补偿中子的理论值;
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