[发明专利]RTK倾斜测量方法和系统

权利要求书

1.一种RTK倾斜测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取两个倾斜角下的对中杆的天线相位中心的坐标，其中，所述对中杆的底部放置在待测点，所述天线相位中心位于对中杆的顶部；

根据两个所述倾斜角和对应的坐标以及所述对中杆的长度获取所述待测点与任一目标点的方位角，其中，所述目标点包括在两个所述倾斜角下所述天线相位中心在所述待测点所在水平面上的投影点；

根据所述方位角、所述对中杆的长度、该目标点对应的倾斜角和天线相位中心的坐标获取所述待测点的坐标，其中，该目标点是所述方位角对应的目标点。

2.根据权利要求1所述的RTK倾斜测量方法，其特征在于，根据两个所述倾斜角和对应的坐标以及所述对中杆的长度获取所述待测点与任一目标点的方位角的步骤，包括以下步骤：

根据两个所述倾斜角对应的坐标分别获取两个对应目标点之间的距离和方位角；

根据两个所述倾斜角和所述对中杆的长度，分别获取两个所述目标点与所述待测点之间的距离；

根据两个所述目标点之间的距离和方位角以及两个所述目标点分别与所述待测点之间的距离，获取所述待测点与任一目标点的方位角。

3.根据权利要求2所述的RTK倾斜测量方法，其特征在于，根据两个所述倾斜角对应的坐标分别获取两个对应目标点之间的距离和方位角的步骤，包括以下步骤：

将两个所述倾斜角对应的坐标转换成两个对应目标点在所述待测点所在水平面上的平面坐标；

根据两个所述目标点的平面坐标获取两个所述目标点之间的距离和方位角。

4.根据权利要求2所述的RTK倾斜测量方法，其特征在于，根据两个所述目标点之间的距离和方位角以及两个所述目标点分别与所述待测点之间的距离，获取所述待测点与任一目标点的方位角的步骤，包括以下步骤：

根据两个所述目标点之间的距离和方位角以及两个所述目标点分别与所述待测点之间的距离，获取所述待测点与任一目标点的两个估计方位角；

测量该目标点在对应倾斜角下对中杆的实际方位角；

将与所述实际方位角最接近的估计方位角作为所述待测点与任一目标点的方位角。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的RTK倾斜测量方法，其特征在于，获取两个倾斜角下的对中杆的天线相位中心的坐标的步骤，包括以下步骤：

分别测量对中杆多次倾斜后各个倾斜角对应的对中杆顶部的天线相位中心的坐标；

从测量的多个所述坐标中选取两个倾斜角下的对中杆的天线相位中心的坐标，其中，选取的两个坐标对应的目标点与所述待测点在所述待测点所在水平面上形成三角形。

6.根据权利要求3所述的RTK倾斜测量方法，其特征在于，根据两个所述目标点的平面坐标获取两个所述目标点之间的距离和方位角的步骤，包括以下步骤：

根据计算两个所述目标点之间的距离和方位角；

其中，两个所述目标点分别为目标点A′和目标点B′，所述目标点A′和所述目标点B′分别为在倾斜角θ₁和倾斜角θ₂下所述天线相位中心在所述待测点所在水平面上的投影点，L_ab为所述目标点A′和所述目标点B′之间的距离，α为所述目标点A′和所述目标点B′之间的方位角，(N₁′,E₁′,Z₁′)为所述目标点A′的平面坐标，(N₂′,E₂′,Z₂′)为所述目标点B′的平面坐标，(N₁′,E₁′)为所述目标点A′在所述待测点所在水平面上的平面坐标，Z₁′为所述目标点A′的大地高度，(N₂′,E₂′)为所述目标点B′在所述待测点所在水平面上的平面坐标，Z₂′为所述目标点B′的大地高度。