[发明专利]一种玻璃基板的清洁方法和装置

说明书

本申请公开了一种玻璃基板的清洁方法和装置，所述方法包括：通过对玻璃基板进行扫描检测，确定所述玻璃基板上的异物信息，其中，所述异物信息包括异物的尺寸和位置；根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物；当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁。本申请实施例的方法和装置，在Frit封装过程中，能够实时有效地清洁玻璃基板上的待清洁异物，减少玻璃基板的报废率。

技术领域

本申请涉及平板显示技术领域，尤其涉及一种玻璃基板的清洁方法和装置。

背景技术

为了防止有机发光显示器内的有机发光二极管被空气中的水分、氧气等侵蚀，在有机发光显示器的制备过程中，通常需要对有机发光显示器进行封装。

目前，对有机发光显示器的封装通常采用Frit(玻璃粉)封装，具体地，首先，将Frit通过丝网印刷在玻璃基板上，得到Frit盖板；其次，将该Frit盖板与有机发光二极管基板压合；最后，使用激光熔融该Frit盖板上的Frit，实现有机发光显示器的Frit封装。

但是，玻璃基板在生产或运输过程中会可能会粘附一些异物(例如，灰尘等)，这些异物一般是颗粒状或纤维状，图1a为玻璃基板中颗粒状异物的示意图，图1b为玻璃基板中纤维状异物的示意图。玻璃基板上的异物会使得对该玻璃基板进行Frit印刷时出现漏印，导致印刷得到的Frit盖板出现瑕疵，影响Frit封装效果。

现有技术中，在Frit封装过程中，对玻璃基板进行Frit印刷之前，需要对玻璃基板进行AOI检测(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)，当根据检测结果确定该玻璃基板上存在尺寸较大的异物时，将该玻璃基板报废处理。但是，将检测确定的存在尺寸较大的异物的玻璃基板报废处理，会导致Frit封装过程中玻璃基板的报废率较高，增加Frit封装的封装成本。

如何减少Frit封装过程中玻璃基板的报废率，是本申请所要解决的技术问题。

发明内容

本申请实施例提供一种玻璃基板的清洁方法和装置，用以解决现有的Frit封装过程中玻璃基板的报废率较高的问题。

一种玻璃基板的清洁方法，包括：

通过对玻璃基板进行扫描检测，确定所述玻璃基板上的异物信息，其中，所述异物信息包括异物的尺寸和位置；

根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物；

当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁。

可选地，根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物，包括：

当所述异物的尺寸大于预设尺寸时，确定所述异物为待清洁异物。

可选地，当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁，包括：

根据所述待清洁异物的位置，将清洁单元移动到所述待清洁异物的位置；

通过所述清洁单元对所述待清洁异物进行清洁，其中，对所述待清洁异物进行清洁的时长为预设时长。

可选地，所述方法还包括：

判断所述待清洁异物是否被清除；

当确定所述待清洁异物未被清除时，通过所述清洁单元对所述待清洁异物重新进行清洁，其中，对所述待清洁异物重新进行清洁的时长为预设时长；

当对所述待清洁异物的清洁次数大于预设次数时，确定所述玻璃基板报废。

可选地，对所述待清洁异物进行清洁且清除，具体包括：