[发明专利]自动光学检测方法及装置有效
申请号: | 201810199984.9 | 申请日: | 2018-03-12 |
公开(公告)号: | CN108445010B | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 鲍杰 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/956 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凯 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 光学 检测 方法 装置 | ||
1.一种自动光学检测方法,用于检测待测物是否存在缺陷,其特征在于,所述方法包括步骤:
对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像;
获取所述待测物的彩色图像;
将所述灰阶图像划分成若干个图像单元;
比较每个所述图像单元的灰阶和预设的灰阶标准,并判断所述图像单元的灰阶是否满足所述灰阶标准;
在所述图像单元的灰阶不满足对应的预设的灰阶标准时,确定所述图像单元存在缺陷;
获取存在缺陷的图像单元的坐标;以及
根据所述坐标利用图像处理算法从所述彩色图像中提取与所述坐标相对应的缺陷图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像的步骤和所述获取所述待测物的彩色图像的步骤同时进行。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述图像单元为灰阶图像的像素。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述灰阶标准为预设的灰阶范围。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述坐标从所述彩色图像中提取与所述坐标相对应的缺陷图像的步骤之后,还包括:
将所述缺陷图像放大至特定倍数后输出。
6.一种自动光学检测装置,用于检测待测物是否存在缺陷,其特征在于,所述自动光学检测装置包括:
扫描相机,用于对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像;
拍照相机,用于对所述待测物拍照,获取所述待测物的彩色图像;
图像处理器,用于将所述灰阶图像划分成若干个图像单元,比较每个所述图像单元的灰阶和预设的灰阶标准,并判断所述图像单元的灰阶是否满足所述灰阶标准;所述图像处理器还用于在所述图像单元的灰阶不满足对应的预设的灰阶标准时,确定所述图像单元存在缺陷;获取存在缺陷的图像单元的坐标,以及根据所述坐标利用图像处理算法从所述彩色图像中提取与所述坐标相对应的缺陷图像。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述扫描相机扫描所述待测物与所述拍照相机对所述待测物的拍照同时进行。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述扫描相机与所述拍照相机的数量均为多个,所有所述扫描相机均沿同一方向对所述待测物进行扫描,各所述扫描相机对所述待测物的扫描范围互不重叠;所述扫描相机和所述拍照相机分别呈排设置,所述扫描相机所在的排与所述拍照相机所在的排平行,且所述扫描相机所在的排平行于所述扫描相机的扫描线。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述图像单元为灰阶图像的像素。
10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述图像处理器还用于将所述缺陷图像放大至特定倍数后输出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆山国显光电有限公司,未经昆山国显光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810199984.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种太阳能电池板裂纹检测方法
- 下一篇:一种基于深度学习的瑕疵检测系统及方法