[发明专利]自动光学检测方法及装置

说明书

本发明涉及一种自动光学检测方法。该方法包括步骤：对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像；获取待测物的彩色图像；根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息；以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。本发明还涉及一种自动光学检测装置，包括扫描相机，用于对待测物进行扫描并获取待测物的灰阶图像；拍照相机，用于获取待测物的彩色图像；图像处理器，用于根据灰阶图像确定待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取缺陷的位置信息，以及根据位置信息从彩色图像中提取与位置信息相对应的缺陷图像。采用上述自动光学检测方法及装置检测待测物的缺陷，缩短了检测的时间，检测效率较高。

技术领域

本发明涉及显示面板检测技术领域，特别涉及一种自动光学检测方法及装置。

背景技术

在显示面板的基板的生产过程中，对于完成加工的基板，通常需要用自动光学检测设备检测基板是否存在缺陷，并在基板存在缺陷时，进一步检测该缺陷的具体情况。但是，当基板存在缺陷时，传统的自动光学检测设备检测一块基板的时间较长，检测效率较低。

发明内容

基于此，有必要针对传统的自动光学检测设备检测一块基板的时间较长，检测效率较低的问题，提供一种自动光学检测方法及装置。

一种自动光学检测方法，用于检测待测物是否存在缺陷。所述方法包括步骤：

对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像；

获取所述待测物的彩色图像；

根据所述灰阶图像确定所述待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取所述缺陷的位置信息；以及

根据所述位置信息从所述彩色图像中提取与所述位置信息相对应的缺陷图像。

在其中一个实施例中，所述对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像的步骤和所述获取所述待测物的彩色图像的步骤同时进行。

在其中一个实施例中，所述根据所述灰阶图像确定所述待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取所述缺陷的位置信息的步骤包括：

将所述灰阶图像划分成若干个图像单元；

比较每个所述图像单元的灰阶和预设的灰阶标准，并判断所述图像单元的灰阶是否满足所述灰阶标准；

在所述图像单元的灰阶不满足对应的预设的灰阶标准时，确定所述图像单元存在缺陷；以及

获取所述图像单元的位置信息。

在其中一个实施例中，所述位置信息包括坐标。

在其中一个实施例中，所述根据所述位置信息从所述彩色图像中提取与所述位置信息相对应的缺陷图像的步骤之后还包括：

将所述缺陷图像放大至特定倍数后输出。

一种自动光学检测装置，用于检测待测物是否存在缺陷。所述自动光学检测装置包括：

扫描相机，用于对所述待测物进行扫描并获取所述待测物的灰阶图像；

拍照相机，用于对所述待测物拍照，获取所述待测物的彩色图像；

图像处理器，用于根据所述灰阶图像确定所述待测物是否存在缺陷，并在存在缺陷时获取所述缺陷的位置信息，以及根据所述位置信息从所述彩色图像中提取与所述位置信息相对应的缺陷图像。

在其中一个实施例中，所述扫描相机扫描所述待测物与所述拍照相机对所述待测物的拍照同时进行。