[发明专利]测试程序生成方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种测试程序生成方法，其特征在于，所述方法包括：

根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，所述指令集合包括多个测试指令；

在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用所述至少一个源数据运行所述测试指令序列得到目标结果；

将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，所述测试程序用于测试处理器芯片的功能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试指令序列包括至少两个相同的测试指令，或者，所述测试指令序列中各测试指令均不相同。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，包括：

根据所述处理器芯片运行的操作系统所支持的程序格式，将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成所述测试程序。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成测试程序之后，所述方法还包括：

将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机之后，所述方法还包括：

接收所述计算机发送的验证通过指令，所述验证通过指令用于指示所述处理器芯片根据所述至少一个源数据，运行所述测试程序所得到的测试结果与所述目标结果相同，以及，指示继续为所述处理器芯片生成测试程序。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，每次生成的所述测试程序用于测试所述处理器芯片的不同功能。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机之后，所述方法还包括：

接收所述计算机发送的错误指令，所述错误指令用于指示所述处理器芯片验证失败。

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

记录为所述处理器芯片生成的测试程序的数量；

在所述数量大于或等于预设数量时，停止执行为所述处理器芯片生成测试程序的操作。

9.一种测试程序生成装置，其特征在于，所述装置包括：

第一生成模块，用于根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，所述指令集合包括多个测试指令；

运算模块，用于在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用所述至少一个源数据运行所述测试指令序列得到目标结果；

第二生成模块，用于将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，所述测试程序用于测试处理器芯片的功能。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述测试指令序列包括至少两个相同的测试指令，或者，所述测试指令序列中各测试指令均不相同。

11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，第二生成模块，具体用于根据所述处理器芯片运行的操作系统所支持的程序格式，将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成所述测试程序。

12.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

发送模块，用于在所述第二生成模块生成测试程序之后，将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机。