[发明专利]测试程序生成方法、装置及存储介质

说明书

本发明提供一种测试程序生成方法、装置及存储介质，该方法包括：根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，指令集合包括多个测试指令；在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用至少一个源数据运行测试指令序列得到目标结果；将测试指令序列、至少一个源数据、目标结果打包，生成测试程序，测试程序用于测试处理器芯片的功能。本发明提供的测试程序生成方法、装置及存储介质，测试指令序列可以包括不同的指令组合，用于测试处理器芯片的不同功能。因此，当所生成的测试程序达到预设数量时，待测试的处理器芯片在运行该预设数量的测试程序时，可以提高处理器芯片功能的验证覆盖率。

技术领域

本发明涉及计算机技术，尤其涉及一种测试程序生成方法、装置及存储介质。

背景技术

在设计处理器芯片的过程中，需要对所设计的处理器芯片进行验证，以确定所设计的处理器芯片的功能是否正常，是否存在设计缺陷或生产缺陷等。目前，处理器芯片的验证主要分为硅前验证和硅后验证。

硅前验证主要通过硬件仿真加速器和现场可编程门阵列(Field－ProgrammableGate Array，FPGA)对处理器芯片进行验证。由于硅前验证的速度较慢，无法进行大量的验证。因此，设计人员可以进一步通过硅后验证，对所设计的处理器芯片进行验证。硅后验证主要通过专门开发的测试程序和现有的程序对处理器芯片进行验证。其中，这里所说的专门开发的测试程序例如可以为汇编语言测试程序、高级语言测试程序等。这里所说的现有的程序例如可以是现有的操作系统、应用程序等。

然而，由于手动开发的测试程序有限，使得测试程序所能验证的处理器芯片的功能有限，同时现有的程序所涉及的处理器芯片的功能也有限。因此，在通过现有的测试程序和现有的程序对处理器芯片进行验证时，处理器芯片功能的验证覆盖率较低，处理器芯片验证结果的准确率较低。

发明内容

本发明提供一种测试程序生成方法、装置及存储介质，用于解决现有技术中在通过现有的测试程序和现有的程序对处理器芯片进行验证时，处理器芯片功能的验证覆盖率较低，处理器芯片验证结果的准确率较低的技术问题。

本发明第一方面提供一种测试程序生成方法，该方法包括：

根据在指令集合中随机选择的测试指令，随机生成测试指令序列，所述指令集合包括多个测试指令；

在源数据集合中随机选择至少一个源数据，并使用所述至少一个源数据运行所述测试指令序列得到目标结果；

将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，所述测试程序用于测试处理器芯片的功能。

在一种可能的实施方式中，所述测试指令序列包括至少两个相同的测试指令，或者，所述测试指令序列中各测试指令均不相同。

在一种可能的实施方式中，所述将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成测试程序，包括：

根据所述处理器芯片运行的操作系统所支持的程序格式，将所述测试指令序列、所述至少一个源数据、所述目标结果打包，生成所述测试程序。

在一种可能的实施方式中，所述生成测试程序之后，所述方法还包括：

将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机。

在一种可能的实施方式中，所述将所述测试程序发送给安装有所述处理器芯片的计算机之后，所述方法还包括：

接收所述计算机发送的验证通过指令，所述验证通过指令用于指示所述处理器芯片根据所述至少一个源数据，运行所述测试程序所得到的测试结果与所述目标结果相同，以及，指示继续为所述处理器芯片生成测试程序。

在一种可能的实施方式中，每次生成的所述测试程序用于测试所述处理器芯片的不同功能。