[发明专利]一种适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法

权利要求书

1.一种适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

对ADC中参考比较器进行前台校准，包括：将ADC的输入短接为共模电压，对参考比较器的正输入端和负输入端进行比较，根据该比较结果，通过增加或减少校准电压的电压值以补偿正输入端或负输入端的失调；

在每个转换周期下对比较器进行乱序操作，包括：

第一次转换，选取前N个比较器按顺序完成MSB位比较，及对选取的N个中最后一个比较器完成LSB位比较，其中N为2以上的自然数；

从第二次转换的MSB位开始，采用伪随机数序列从上一次比较中未被选中的比较器与上一次转换周期时相同比特位所用的比较器中选取一个来比较第二次转换的MSB位；

对乱序操作后的比较器进行校准，包括：判断当前比较周期是否为LSB位的比较，及在判断为LSB位比较时，对参考比较器和LSB位比较器的输出结果对比，根据对比结果增加或减少LSB位比较器输入的校准电压。

2.根据权利要求1所述适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于，所述方法中根据参考比较器的正输入端和负输入端的比较结果，通过增加或减少校准电压的电压值，具体为：

若参考比较器的输出结果为1，则增加参考比较器的负校准输入端的电压值；

若参考比较器的输出结果为0，则增加参考比较器的正校准输入端的电压值。

3.根据权利要求1所述适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于，所述方法的中采用1比特的伪随机数序列选取一个比较器，具体为：

若伪随机数序列的伪随机数值为1，则选取上一次比较中未选择的比较器；

若伪随机数序列的伪随机数值为0，则选取上一次转换周期时相同比特位所用的比较器。

4.根据权利要求1所述适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于，所述方法中对参考比较器和LSB位比较器的输出结果对比，根据对比结果增加或减少LSB位比较器输入的校准电压，具体为：

若参考比较器的输出结果与LSB位比较器的输出结果相同，则不进行任何操作；

若参考比较器的输出结果为1，LSB位比较器输出结果为0，则增加LSB位比较器的正校准输入端的校准电压值；

若参考比较器的输出结果为0，LSB位比较器输出结果为1，则增加LSB位比较器的负校准输入端的校准电压值。

5.根据权利要求1所述适用于非环路结构SAR ADC的乱序及校准方法，其特征在于：所述方法中ADC包括N+1个带有校准输入的比较器和参考比较器、乱序校准和控制逻辑。