[发明专利]包括检测器元件的移位多维阵列的检测器设备

权利要求书

1.一种检测器设备(22)，包括：

检测器的多维阵列(30)，其包括在第一方向上彼此对齐的多个第一检测器(32)和在所述第一方向上彼此对齐的多个第二检测器(34)，所述第二检测器(34)在不同于所述第一方向的第二方向上相对于所述第一检测器(32)偏移；以及

处理器(40)，其确定用于将所述多维阵列有效地压缩成均匀的线性阵列的、与所述第一检测器(32)和所述第二检测器(34)之间的所述偏移有关的内插系数，并基于所述内插系数来确定所述设备(22)的检测的角度。

2.根据权利要求1所述的检测器设备(22)，其中，所述检测的角度包括在第一维度中的第一角度和在与所述第一维度横切的第二维度中的第二角度。

3.根据权利要求2所述的检测器设备(22)，其中，所述第一角度是方位角，并且所述第二角度是仰角。

4.根据权利要求1所述的检测器设备(22)，其中，所述内插系数包括多个系数和校正因子。

5.根据权利要求4所述的检测器设备(22)，其中

所述多个系数是所述第一检测器(32)和所述第二检测器(34)之间的线性关系的系数；

在基于所述第一检测器(32)和所述第二检测器(34)之间的所述偏移的所述线性关系中存在误差；并且

所述校正因子减小所述误差的影响。

6.根据权利要求5所述的检测器设备(22)，其中

所述偏移具有相关联的相位差；

所述误差基于所述相位差；并且

所述校正因子对应于最小化所述误差的所述相位差的值。

7.根据权利要求6所述的检测器设备(22)，其中，所述处理器(40)：

确定所述相位差的至少一个值；

确定所述至少一个值何时最小化所述误差；并且

根据包括最小化所述误差的所述至少一个值的所述线性关系来确定所述多个系数。

8.根据权利要求1所述的检测器设备(22)，其中，所述第一方向垂直于所述第二方向。

9.根据权利要求1所述的检测器设备(22)，其中，所述检测器均包括天线。

10.根据权利要求1所述的检测器设备(22)，其中，所述检测器检测RADAR或LIDAR辐射中的至少一个。

11.一种确定设备(22)的检测的角度的方法，包括：

确定用于将多维阵列(30)有效地压缩成均匀的线性阵列的、与第一检测器(32)和第二检测器(34)之间的偏移有关的内插系数，其中，所述第一检测器(32)和所述第二检测器(34)在所述多维阵列(30)中，所述多维阵列包括在第一方向上彼此对齐的第一检测器(32)和在所述第一方向上彼此对齐的第二检测器(34)，并且其中，所述偏移在不同于所述第一方向的第二方向上位于所述第一检测器(32)和所述第二检测器(34)之间；以及

使用所确定的内插系数来确定所述设备(22)的检测的角度。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，确定所述检测的角度包括：

确定在第一维度中的第一角度；以及

确定在与所述第一维度横切的第二维度中的第二角度。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，所述第一角度是方位角，并且所述第二角度是仰角。

14.根据权利要求11所述的方法，其中，确定所述内插系数包括确定多个系数和校正因子。