[发明专利]一种X光晶元检测设备在审
| 申请号： | 201810206554.5 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108398443A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 李雅媚 | 申请（专利权）人： | 深圳市昱燊科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 控制箱 上端 检测箱 检测设备 滑轮 晶元 影响检测结果 从上至下 检测结果 前侧面板 实时反馈 依次设置 应急按钮 自动识别 左右移动 灯管 侧中部 扫描仪 总开关 省时 下端 省力 显示屏 键盘 盲区 鼠标 检测 移动 | ||
1.一种X光晶元检测设备，包括控制箱(1)和检测箱(3)，其特征在于，所述控制箱(1)和检测箱(3)下端均设置有多个滑轮(2)，所述控制箱(1)上端左侧设置有扫描仪(4)，所述控制箱(1)上端中部设置有键盘(5)，所述控制箱(1)上端右侧设置有鼠标(6)，所述控制箱(1)前侧面板右侧从上至下依次设置有应急按钮(7)、控制开关(8)和总开关(9)，所述检测箱(3)前侧中部设置有显示屏(13)，所述检测箱(3)右侧开设有横槽且滑动连接活动板(10)，所述活动板(10)右端设置有挡板(11)，所述活动板(10)上端设置有多个固定块(12)，所述固定块(12)共同固定连接有放料盘(14)；
所述检测箱(3)内部在活动板(10)左右两侧均设置有X轴导轨(15)，所述检测箱(3)在X轴导轨(15)的右侧设置有第二伺服电机(22)，所述X轴导轨(15)滑动连接有第一滑块(16)，所述第一滑块(16)上端固定连接有Y轴导轨(17)，所述Y轴导轨(17)右端设置有第一伺服电机(21)，所述Y轴导轨(17)上滑动连接有第二滑块(18)，所述第二滑块(18)下端设置有固定板(19)，所述固定板(19)下端设置有X光检测装置(20)，所述检测箱(3)后侧通过螺丝(3)固定连接有检修板(24)，所述检测箱(3)内部顶端左侧设置有斜板(25)，所述斜板(25)的一侧设置有灯管(26)，所述检测箱(3)内侧顶端设置有定位器(27)。
2.根据权利要求1所述的一种X光晶元检测设备，其特征在于，所述滑轮(2)数量至少为4个。
3.根据权利要求1所述的一种X光晶元检测设备，其特征在于，所述控制箱(1)内部分别设置有电源、电路板和单片机；所述电源与电路板电性连接，电路板上安装有单片机，所述单片机与控制开关(8)、显示屏(13)、扫描仪(4)、第一伺服电机(21)、第二伺服电机(22)和定位器(27)均电性连接,所述单片机型号为AT89C51。
4.根据权利要求1所述的一种X光晶元检测设备，其特征在于，所述固定块(12)形状为L形。
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