[发明专利]集成电路版图数据的存储与查询方法

权利要求书

1.一种集成电路版图数据的存储与查询方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；

将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；

获取每个图形数据的基准坐标与存储位置并形成每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据；

将每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据写入所述图形数据从而获得对应的图形单元模块，所述多个图像数据对应的多个图形单元模块构成目标集成电路版图数据；

获取目标图形数据的基准坐标；及

依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块。

2.如权利要求1所述的存储与查询方法，其特征在于：所述基础几何图形包括多边形、线条或文字；所述每个图形数据的基准坐标为所述图形数据的左上角的坐标信息或所述图形数据的右上角的坐标信息。

3.如权利要求1所述的存储与查询方法，其特征在于：将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储的步骤中，同一图层的图形数据依据自上而下且自左向右的顺序依次存储；对于不同图层的图形数据依据图层的顺序依次存储，且在完成上一个图层的所有图形数据的存储后再进行下一个图层的所有图形数据的存储。

4.如权利要求1所述的存储与查询方法，其特征在于：依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块的步骤包括：

获取查找范围阈值W；及

基于所述映射数据查询基准坐标位于目标范围内的所有图形数据对应的图形单元模块，其中所述目标范围为与所述目标图形数据的基准坐标之间的距离为W的坐标范围。

5.如权利要求4所述的存储与查询方法，其特征在于：所述方法还包括以下步骤：对上述查询到的所有图形单元模块的图形数据进行逻辑运算以进行可制造性规则查询及/或光学修正。

6.一种集成电路版图数据的存储方法，其特征在于所述方法包括如下步骤：

获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；

将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；

获取每个图形数据的基准坐标与存储位置并形成每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据；

将每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据写入所述图形数据从而获得对应的图形单元模块，所述多个图像数据对应的多个图形单元模块构成目标集成电路版图数据。

7.一种集成电路版图数据的查询方法，其特征在于：所述集成电路版图数据包括多个图形单元模块，每个图形单元模块包括图形数据及所述图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据，所述图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形，所述方法包括如下步骤：

获取目标图形数据的基准坐标；及

依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块。

8.一种电子装置，其特征在于：所述电子装置包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序所述计算机程序在被所述处理器执行时实现权利要求1-7项任意一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7项任意一项所述的方法的步骤。

10.一种集成电路版图数据的存储与查询系统，其特征在于：所述装置包括：

第一获取单元，用于获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；

存储单元，用于将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；

第二获取单元，用于获取每个图形数据的基准坐标与存储位置并形成每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据；

写入单元，用于将每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据写入所述图形数据从而获得对应的图形单元模块，所述多个图像数据对应的多个图形单元模块构成目标集成电路版图数据；

第三获取单元，用于获取目标图形数据的基准坐标；及

查询单元，用于依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块。