[发明专利]集成电路版图数据的存储与查询方法

说明书

一种集成电路版图数据的存储与查询方法包括如下步骤：获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；获取每个图形数据的基准坐标与存储位置并形成每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据；将每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据写入所述图形数据从而获得对应的图形单元模块，所述多个图像数据对应的多个图形单元模块构成目标集成电路版图数据；获取目标图形数据的基准坐标；及依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块。

技术领域

本发明涉及一种集成电路版图数据的存储与查询方法、使用上述方法的电子装置及计算机可读存储介质、及集成电路版图数据的存储与查询系统。

背景技术

随着集成电路技术的发展，集成电路版图被广泛的引用。然而，当大规模集成电路版图数据规模达到几百GB甚至TB的规模时，对集成电路版图数据进行修改和验证时，诸如光学修正、可制造性规则检查等，集成电路版图数据访问对内存需求以及访问时间都是一个极大的考验。

发明内容

有鉴于此，有必要提出一种可提高集成电路版图的查询效率的集成电路版图数据的存储与查询方法，也有必要提出一种使用上述查询方法的电子装置及计算机可读存储介质。

一种集成电路版图数据的存储与查询方法，其包括如下步骤：

获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；

将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；

获取每个图形数据的基准坐标与存储位置并形成每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据；

将每个图形数据的基准坐标与存储位置的映射数据写入所述图形数据从而获得对应的图形单元模块，所述多个图像数据对应的多个图形单元模块构成目标集成电路版图数据；

获取目标图形数据的基准坐标；及

依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块。

在一种可选的实施方式中，所述基础几何图形包括多边形、线条或文字。

在一种可选的实施方式中，所述每个图形数据的基准坐标为所述图形数据的左上角的坐标信息或所述图形数据的右上角的坐标信息。

在一种可选的实施方式中，将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储的步骤中，同一图层的图形数据依据自上而下且自左向右的顺序依次存储；对于不同图层的图形数据依据图层的顺序依次存储，且在完成上一个图层的所有图形数据的存储后再进行下一个图层的所有图形数据的存储。

在一种可选的实施方式中，依据所述目标图形数据的基准坐标及所述目标集成电路版图数据的映射数据查找对应的图形单元模块的步骤包括：

获取查找范围阈值W；及

基于所述映射数据查询基准坐标位于目标范围内的所有图形数据对应的图形单元模块，其中所述目标范围为与所述目标图形数据的基准坐标之间的距离为W的坐标范围。

在一种可选的实施方式中，所述方法还包括以下步骤：对上述查询到的所有图形单元模块进行逻辑运算以进行可制造性规则查询及/或光学修正。

一种集成电路版图数据的存储方法，其包括如下步骤：

获取原始集成电路版图数据，所述原始集成电路版图数据包括多个图形数据，每个图形数据包括一个、两个或多个基础几何图形；

将所述原始集成电路版图数据的多个图形数据依次存储；