[发明专利]测试设备和测试方法有效
申请号: | 201810215388.5 | 申请日: | 2018-03-15 |
公开(公告)号: | CN109428653B | 公开(公告)日: | 2023-01-13 |
发明(设计)人: | 科比特·罗威尔;伊拉特克·费尔南德斯·安东;亨德里克·巴特科 | 申请(专利权)人: | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/10 | 分类号: | H04B17/10;H04B17/15 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;张敬强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 设备 方法 | ||
1.一种用于测试被测装置的测试设备,所述测试设备包括:
信号分析装置,其用于测量由被测装置发射的经调制的信号,或用于将经调制的测试信号发射至被测装置;以及
多个功率分析装置,包括仅用于测量由被测装置发射的射频功率的至少一个功率分析装置以及仅用于将连续波信号发射至被测装置的至少一个功率分析装置,
其中,信号分析装置和功率分析装置各自在多个测试序列中操作,而无需移除或重新连接被测装置,并且
其中,针对经调制的测试信号执行至少一个测试,并且仅考虑被测装置所发射的功率或发射至被测装置的连续波信号来执行至少一个另外的测试。
2.根据权利要求1所述的测试设备,其中,信号分析装置和功率分析装置被同时操作。
3.根据权利要求1所述的测试设备,其中,信号分析装置包括下述元件中的至少一个:
用于测量由被测装置发射的经调制的信号的测量天线;
用于将经调制的测试信号发射至被测装置的测量天线;
电耦合至测量天线、用于分析由测量天线测得的经调制的信号的信号分析仪;
用于产生要由测量天线发射的经调制的测试信号的信号发生器。
4.根据权利要求3所述的测试设备,其中,测量天线设置在被测装置的瞄准方向上。
5.根据权利要求1所述的测试设备,其还包括机械定位结构,所述机械定位结构被构造和设置为承载测量天线或功率分析装置并且还被构造为可控地使测量天线或功率分析装置各自围绕被测装置运动。
6.根据权利要求5所述的测试设备,其中,机械定位结构被构造和设置为使测量天线或功率分析装置围绕被测装置在环形的或球形的圆周上运动。
7.根据权利要求1所述的测试设备,其中,多个功率分析装置设置在预定的位置处。
8.根据权利要求1所述的测试设备,其还包括通信地耦合至信号分析装置的通信控制器,所述通信控制器被构造为与被测装置进行通信。
9.根据权利要求8所述的测试设备,其中,通信控制器通信地耦合至信号分析装置,并且被构造为给信号分析装置的系统提供要被发射至被测装置的信号。
10.根据权利要求1所述的测试设备,其还包括机械装置定位结构,所述机械装置定位结构被构造和设置为承载被测装置并且还被构造为可控地使被测装置旋转或平移。
11.根据权利要求1所述的测试设备,其还包括测量室,所述测量室被构造和设置为容纳信号分析装置、多个功率分析装置和被测装置。
12.一种用于测试被测装置的测试方法,所述测试方法包括:
使用信号分析装置测量由被测装置发射的经调制的信号或将经调制的测试信号发射至被测装置;
使用至少一个功率分析装置测量由被测装置发射的射频功率;以及
使用至少一个另外的功率分析装置将连续波信号发射至被测装置,
其中,测量经调制的信号或发射经调制的测试信号的步骤和测量射频功率或发射连续波信号的步骤各自在多个测试序列中操作,而无需移除或重新连接被测装置,并且
其中,针对经调制的测试信号执行至少一个测试,并且仅考虑被测装置所发射的功率或发射至被测装置的连续波信号来执行至少一个另外的测试。
13.根据权利要求12所述的测试方法,其中,测量经调制的信号或发射经调制的测试信号的步骤与测量射频功率或发射连续波信号的步骤同时进行。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司,未经罗德施瓦兹两合股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810215388.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。