[发明专利]测试设备和测试方法

说明书

本发明提供用于测试被测装置的一种测试设备和一种测试方法。特别地，提供一种测试设备，其包括用于对测量信号进行矢量分析的装置以及用于仅分析与被测装置有关的射频信号的功率的至少一个另外的装置。通过同时操作用于矢量分析的装置和用于分析功率的装置，可以实现有效的测试。

技术领域

本发明涉及一种用于测试被测装置的测试设备。本发明还涉及一种相应的测试方法。

背景技术

虽然本发明在原则上适用于任何无线测试系统，但是在下文中将结合无线装置的波束成形测试来描述本发明及其基本问题。

在现代无线通信系统中，通过波束成形或波束控制来优化单一装置之间的通信。因此，在开发或生产用于这样的通信系统的装置期间有必要彻底地测试装置的波束控制能力，以符合通信标准和法律规定。因此，尤其是对于波束成形装置来说需要进行要求不同测量设备的多个不同测试。

例如，通常一些测试要求详细地分析由被测装置发射的信号，其中分析了信号的详细相位和/或幅值。此外，一些其他的测试仅要求分析由被测装置发射的绝对功率，这通常通过其他测试设备来执行。因此，通过不同的测试设备进行多个测试需要大量的测试序列。

发明内容

在这种背景下，需要为能够波束成形的装置提供一种多功能测试设备。

根据第一方面，提供一种用于测试被测装置的测试设备。该测试设备包括信号分析装置，其用于测量由被测装置发射的经调制的信号和/或将经调制的测试信号发射至被测装置。该测试设备还包括多个功率分析装置，它们用于测量由被测装置发射的射频功率和/或将连续波信号发射至被测装置。特别地，信号分析装置和功率分析装置各自在多个测试序列中操作，而无需移除或重新连接被测装置。

根据第二方面，提供一种用于测试被测装置的测试方法。该测试方法包括使用信号分析装置测量由被测装置发射的经调制的信号或将经调制的测试信号发射至被测装置的步骤。该测试方法还包括使用多个功率分析装置测量由被测装置发射的射频功率或将连续波信号发射至被测装置的步骤。测量经调制的信号或发射经调制的测试信号的步骤和测量射频功率或发射连续波信号的步骤各自在多个测试序列中操作，而无需移除或重新连接被测装置。

本发明所基于的事实是，用于测试波束成形装置的多个测试需要不同测试设备。因此，随后进行多个测试时，波束成形装置必须被放入多个不同的测试设备中。因此，这样的测试序列是非常耗时的。

特别地，一些要应用于波束成形装置的测试需要对经调制的信号进行全面分析。经调制的信号可以由被测装置发射并由测试设备接收，或者经调制的信号可以被产生并发射至被测装置。

应理解的是，信号的调制度可以应用于信号的相位或信号的幅值。此外，也可以对信号的相位和幅值都应用调制度。另外，在考虑信号的调制度时，也可以考虑发射的射频信号的极化。

经调制的信号的分析需要包括适当的测量天线和相应的信号处理设备的复杂的测试设备。因此，为了降低成本，这样的测试设备仅用于需要分析经调制的信号的测试。

其他一些测试仅需要分析由被测装置发射的绝对功率值。在一些其他测试方案中，具有恒定功率的连续波的射频信号可以应用于被测装置。这些测试可以通过更简单且因此更廉价的测试设备来执行。

然而，在对波束成形装置进行测试时，必须非常精确地知道被测装置的位置。因此，用于将被测装置定位在测试设备中的费用和时间是对装置进行测试时非常重要的因素。因此，当在多个不同的测试设备中应用测试序列时，用于将装置定位在多个单独的测试设备中的时间非常关键。

为了减少用于测试波束成形装置的时间并因此降低用于测试波束成形装置的总体成本，本发明提供一种可应用多个测试的测试设备。因此，不需要将被测装置从一个测试设备移动到另一个测试设备。此外，在单一的测试设备中可以应用多个测试，而无需将被测装置从一个测试设备移动到另一个测试设备。通过这种方式，可以显著地提高用于测试波束成形装置的效率。