[发明专利]一种插入损耗测试条有效

专利信息
申请号: 201810219213.1 申请日: 2018-03-16
公开(公告)号: CN108445299B 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 孙梁;纪成光;杜红兵;肖璐;陈正清;王善进 申请(专利权)人: 生益电子股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 523127 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 插入损耗 测试
【权利要求书】:

1.一种插入损耗测试条,沿其层叠方向包括两个表层和至少一层待测信号布线层,还包括至少一组测试焊盘组,所述测试焊盘组与所述待测信号布线层一一对应;其特征在于,

对于位于内层的每层待测信号布线层,与其相应的测试焊盘组通过过孔连接,且其相应的测试焊盘组设置于指定表层;所述过孔未经背钻处理,所述指定表层为所述两个表层中与本层待测信号布线层垂直距离较远的第一表层或者第二表层;

所述每层待测信号布线层布置有至少一组差分信号线,每组差分信号线包括具有相同长度和宽度的第一信号线和第二信号线;

对于每层待测信号布线层,在其相应测试焊盘组所在的表层,设有多个与本层待测信号布线层相对应的测试区,本层待测信号布线层的每组差分信号线的两端分别对应连接一个所述测试区;

所述测试区包括:第一过孔,第二过孔,第一测试焊盘,第二测试焊盘;所述第一过孔,其一端与所述第一测试焊盘连接,其另一端与对应差分信号线中第一信号线的对应端连接;所述第二过孔,其一端与所述第二测试焊盘连接,其另一端与对应差分信号线中第二信号线的对应端连接;

对于每层待测信号布线层,其对应的测试焊盘组包括:与本层待测信号布线层内各组差分信号线分别连接的所有第一测试焊盘和所有第二测试焊盘。

2.根据权利要求1所述的插入损耗测试条,其特征在于,对于位于表层的每层待测信号布线层,其相应的测试焊盘组设置于本层待测信号布线层所在的同一表层。

3.根据权利要求1所述的插入损耗测试条,其特征在于,所述测试区还包括若干个接地孔,若干个所述接地孔分布于所述第一过孔和所述第二过孔周围。

4.根据权利要求1所述的插入损耗测试条,其特征在于,所述测试区还包括若干个定位孔,若干个所述定位孔分布于测试区的四周边缘。

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