[发明专利]一种测试多触点电连接结构电性能的实验装置及测试方法

权利要求书

1.一种测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于，包括下底座(1)和设于下底座(1)上的固定底座(2)，固定底座(2)底面向上嵌入设有空槽，空槽和下底座(1)共同形成腔室(21)，腔室(21)内设有活动底座(3)，活动底座(3)和固定底座(2)相连接并可在腔室(21)内做升降运动，活动底座(3)底面嵌入设有热电偶上组件(4)，下底座(1)顶面嵌入设有与热电偶上组件(4)相对应的热电偶下组件(5)。

2.根据权利要求1所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述固定底座(2)还包括升降螺纹杆(6)，升降螺纹杆(6)顶端穿过固定底座(2)顶面并与固定底座(2)螺纹连接，升降螺纹杆(6)底端与活动底座(3)顶面转动连接，升降螺纹杆(6)旋转带动活动底座(3)在腔室(21)内做升降运动。

3.根据权利要求2所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述固定底座(2)顶面设有与升降螺纹杆(6)相配合的升降螺纹套(7)，升降螺纹套(7)的制造材料为黄铜。

4.根据权利要求1所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述下底座(1)顶面左右两端向上延伸出限位块(111)，限位块(111)与下底座(1)形成限位槽(11)，固定底座(2)通过限位槽(11)与下底座(1)相契合。

5.根据权利要求4所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述限位槽(11)的纵截面为梯形结构，限位块(111)内壁为滑动过渡面，固定底座(2)通过滑动过渡面滑入限位槽(11)中。

6.根据权利要求5所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述限位槽(11)的纵截面为顶边大于底边的梯形结构。

7.根据权利要求4所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述限位块(111)顶面嵌入设有V形槽(112)，V形槽(112)中贯穿设有V形槽定位柱(113)，V形槽定位柱(113)一端与固定底座(2)紧固连接。

8.根据权利要求7所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置，其特征在于：所述下底座(1)上设有活动底座导向轴(8)，活动底座导向轴(8)穿过活动底座(3)和固定底座(2)，活动底座(3)沿活动底座导向轴(8)做升降运动。

9.根据权利要求1～8任一项所述的测试多触点电连接结构电性能的实验装置的测试方法，其特征在于，按如下步骤进行：

步骤1：将热电偶下组件(5)安装固定在下底座(1)上；

步骤2：将固定底座(2)从上往下与活动底座(3)组件套装，使得活动底座(3)可在腔室(21)内做升降运动；

步骤3：将固定底座(2)与活动底座(3)组件整体倒置，用紧固件将热电偶上组件(4)安装固定在活动底座(3)上；

步骤4：将固定底座(2)及活动底座(3)组件整体吊起与下底座(1)装配定位；

步骤5：通过升降活动底座(3)，改变热电偶上组件(4)和热电偶下组件(5)之间的间隙距离；

步骤6：在不同的装配间隙下，对应检测电阻值、从而可以模拟实际操作中不同间隙下多触点电连接结构的电性能。