[发明专利]基带芯片性能测试方法和装置

权利要求书

1.一种基带芯片性能测试方法，其特征在于，待测基带芯片设置于测试板上，所述方法包括：

在性能测试对应的测试条件和N个测试场景下，根据性能测试对应的测试信号输出规则向所述待测基带芯片输出测试信号；所述测试场景包括不同的温度、湿度和电磁干扰等场景；

接收所述待测基带芯片在测试时间内输出的定位结果；

根据所述定位结果确定性能测试参数，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间、热启动首次定位时间或重捕获时间；

所述根据所述定位结果确定性能测试参数，包括：

根据测量的N个测试场景下对应的N个待测基芯片从接收到测试信号开始至输出满足定位精度要求的第一个定位结果的时间间隔确定性能测试参数；若N个时间间隔中的M个有效测试结果大于预设值，则所述性能测试参数为N个时间间隔中的M个有效测试结果的平均值；若N个时间间隔中的M个有效测试结果小于预设值，则测试无效。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间或热启动首次定位时间，所述性能测试对应的测试信号输出规则为：

向所述待测基带芯片输出测试信号；

所述根据所述定位结果确定性能测试参数，包括：

测量所述待测基带芯片从接收到测试信号开始至输出满足定位精度要求的第一个定位结果的时间间隔T_i，并根据N个测试场景下对应的N个T_i确定冷启动首次定位时间或热启动首次定位时间，若N个T_i中的M个有效测试结果大于预设值，则所述冷启动首次定位时间或热启动首次定位时间为M个T_i的平均值；若N个时间间隔中的M个有效测试结果小于预设值，则测试无效。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间，所述测试条件包括：

卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；

所述测试板所在船舶的最大速度小于或等于30m/s，最大加速度小于或等于0.5m/s²，加速度的最大变化率小于或等于0.05m/s³；

所述待测基带芯片可追踪到至少9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号；或者，

所述待测基带芯片可追踪到至少6颗BD-2卫星和6颗全球定位系统GPS卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述性能测试参数为热启动首次定位时间，所述测试条件包括：

卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；

所述测试板所在船舶的最大速度小于或等于30m/s，最大加速度小于或等于0.5m/s²，加速度的最大变化率小于或等于0.05m/s³；

所述待测基带芯片可追踪到12颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号；或者，

所述待测基带芯片可追踪到至少6颗BD-2卫星和6颗GPS卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。