[发明专利]基带芯片性能测试方法和装置

说明书

本发明提供一种基带芯片性能测试方法和装置，待测基带芯片设置于测试板上，该方法包括：在性能测试对应的测试条件和N个测试场景下，根据性能测试对应的测试信号输出规则向待测基带芯片输出测试信号，接收待测基带芯片在测试时间内输出的定位结果，根据定位结果确定性能测试参数，性能测试参数为冷启动首次定位时间、热启动首次定位时间或重捕获时间。可测试基带芯片在不同环境下的启动性能或复锁性能，为实际应用中基带芯片的选择提供依据。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种基带芯片性能测试方法和装置。

背景技术

由于航海环境的特殊性，船载的导航设备相对普通环境下的导航设备，在可靠性、防震、防潮、防高温及防光直射等方面有更高的要求，因此，船载导航设备都需要经过统一、严格的检测测试程序，采用国际统一的衡量标准并达到所要求的测试结果方可安装上船。

船载导航设备的主要组成部分为基带芯片，受外界环境的变化，基带芯片的定位精度也会产生变化。在实际的应用过程中，需要基带芯片在不同环境下的定位精度满足一定要求，海上环境(四季的温度、湿度、电磁干扰等)变化大，更需要基带芯片能够在不同环境下达到所需的定位精度，而不同定位精度下基带芯片的启动性能和复锁性能是有区别的，因此，在基带芯片使用前需要对其进行启动性能和复锁性能测试，启动性能测试包括冷启动首次定位时间测试和热启动首次定位时间测试，复锁性能测试为重捕获时间测试。

然而，如何进行基带芯片性能测试，目前还没有一个有效的解决方法。

发明内容

本发明提供一种基带芯片性能测试方法和装置，可测试基带芯片在不同环境下的启动性能或复锁性能，为实际应用中基带芯片的选择提供依据。

本发明的第一方面提供一种基带芯片性能测试方法，待测基带芯片设置于测试板上，该方法包括：

在性能测试对应的测试条件和N个测试场景下，根据性能测试对应的测试信号输出规则向所述待测基带芯片输出测试信号；

接收所述待测基带芯片在测试时间内输出的定位结果；

根据所述定位结果确定性能测试参数，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间、热启动首次定位时间或重捕获时间。

可选的，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间或热启动首次定位时间，所述性能测试对应的测试信号输出规则为：

向所述待测基带芯片输出测试信号；

所述根据所述定位结果确定性能测试参数，包括：

测量所述待测基带芯片从接收到测试信号开始至输出满足定位精度要求的第一个定位结果的时间间隔T_i，并根据N个测试场景下对应的N个T_i确定冷启动首次定位时间或热启动首次定位时间。

可选的，所述性能测试参数为冷启动首次定位时间，所述测试条件包括：

卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；

所述测试板所在船舶的最大速度小于或等于30m/s，最大加速度小于或等于0.5m/s²，加速度的最大变化率小于或等于0.05m/s³；

所述待测基带芯片可追踪到至少9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号；或者，

所述待测基带芯片可追踪到至少6颗BD-2卫星和6颗全球定位系统GPS卫星，且所述待测基带芯片追踪卫星位置的PDOP≤5，所述测试信号为BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。

可选的，所述性能测试参数为热启动首次定位时间，所述测试条件包括：