[发明专利]P-iris的寿命检测控制电路在审
| 申请号： | 201810249893.1 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN108536057A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 施文凯;何雨晖;洪秋亮 | 申请（专利权）人： | 福建福光股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/042 | 分类号： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350015 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 主控电路 寿命测试 驱动电路输出 按键电路 控制电路 脉冲指令 寿命检测 稳压电路 电机工作状态 控制主控电路 电源启动 客户需求 驱动电路 系统供电 正常供电 主控芯片 镜头 繁琐性 按键 按下 管控 电机 电路 驱动 客户 | ||
【权利要求书】：
1.一种P-iris的寿命检测控制电路，其特征在于，包括基于STC15F204EA主控芯片的主控电路、用于为整个系统供电的稳压电路、与主控电路连接且用于驱动P-iris的电机工作状态的驱动电路、与主控电路连接且用于控制主控电路对驱动电路输出脉冲指令的按键电路；电源启动，稳压电路正常供电时，主控电路根据按键电路的各按键按下与否，对驱动电路输出不同的脉冲指令，进而控制P-iris的电机的转向和速度，以此实现P-iris在不同频率下寿命测试的控制。
2.根据权利要求1所述的P-iris的寿命检测控制电路，其特征在于，所述稳压电路采用LM7809芯片、LM7805芯片及LM317芯片。
3.根据权利要求1所述的P-iris的寿命检测控制电路，其特征在于，所述驱动电路采用L293D芯片。
4.根据权利要求1所述的P-iris的寿命检测控制电路，其特征在于，所述按键电路包括6个按键，该6个按键分别代表P-iris不同的频率的寿命作动，通过程序分别设置为100pps、200pps、300pps、400pps、500pps、600pps。
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