[发明专利]P-iris的寿命检测控制电路

说明书

本发明涉及一种P‑iris的寿命检测控制电路。包括基于STC15F204EA主控芯片的主控电路、用于为整个系统供电的稳压电路、与主控电路连接且用于驱动P‑iris的电机工作状态的驱动电路、与主控电路连接且用于控制主控电路对驱动电路输出脉冲指令的按键电路；电源启动，稳压电路正常供电时，主控电路根据按键电路的各按键按下与否，对驱动电路输出不同的脉冲指令，进而控制P‑iris的电机的转向和速度，以此实现P‑iris在不同频率下寿命测试的控制。本发明电路易于实现，并且可以根据客户需求，更改参数，能够对镜头P‑iris的寿命测试进行有效的管控和整理；解决了镜头P‑iris寿命测试的繁琐性，以及客户的特殊需求。

技术领域

本发明涉及一种P-iris的寿命检测控制电路。

背景技术

随着安防行业的发展日益成熟，P-iris不仅适用于百万像素摄像机，而且适用于所有固定网络摄像机。镜头光圈调节着光圈孔大小及穿过镜头的光的数量，以确保图像可以正确曝光。P-iris可以提供给摄像机关于光圈位置的信息，摄像机可以有效地控制光圈孔以优化图像质量。因此，对P-iris的寿命检测也就至关重要了。

发明内容

本发明的目的在于提供一种P-iris的寿命检测控制电路，电路易于实现，并且可以根据客户需求，更改参数，能够对镜头P-iris的寿命测试进行有效的管控和整理；解决了镜头P-iris寿命测试的繁琐性，以及客户的特殊需求。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：一种P-iris的寿命检测控制电路，包括基于STC15F204EA主控芯片的主控电路、用于为整个系统供电的稳压电路、与主控电路连接且用于驱动P-iris的电机工作状态的驱动电路、与主控电路连接且用于控制主控电路对驱动电路输出脉冲指令的按键电路；电源启动，稳压电路正常供电时，主控电路根据按键电路的各按键按下与否，对驱动电路输出不同的脉冲指令，进而控制P-iris的电机的转向和速度，以此实现P-iris在不同频率下寿命测试的控制。

在本发明一实施例中，所述稳压电路采用LM7809芯片、LM7805芯片及LM317芯片。

在本发明一实施例中，所述驱动电路采用L293D芯片。

在本发明一实施例中，所述按键电路包括6个按键，该6个按键分别代表P-iris不同的频率的寿命作动，通过程序分别设置为100pps、200pps、300pps、400pps、500pps、600pps。

相较于现有技术，本发明具有以下有益效果：本发明电路易于实现，并且可以根据客户需求，更改参数，能够对镜头P-iris的寿命测试进行有效的管控和整理；解决了镜头P-iris寿命测试的繁琐性，以及客户的特殊需求。

附图说明

图1为本发明电路原理示意图。

图2为本发明稳压电路原理图。

图3为本发明主控电路原理图。

图4为本发明驱动电路原理图。

图5为本发明按键电路原理图。

图6为本发明主程序流程图。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的技术方案进行具体说明。

本发明的一种P-iris的寿命检测控制电路，包括基于STC15F204EA主控芯片的主控电路、用于为整个系统供电的稳压电路、与主控电路连接且用于驱动P-iris的电机工作状态的驱动电路、与主控电路连接且用于控制主控电路对驱动电路输出脉冲指令的按键电路；电源启动，稳压电路正常供电时，主控电路根据按键电路的各按键按下与否，对驱动电路输出不同的脉冲指令，进而控制P-iris的电机的转向和速度，以此实现P-iris在不同频率下寿命测试的控制。