[发明专利]一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法有效
申请号: | 201810253349.4 | 申请日: | 2018-03-26 |
公开(公告)号: | CN108871374B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 韩俊锋;徐思旺;井峰;阮萍;谢小平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01M11/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 光电 跟踪 系统 脱靶 延时 测量 精度 方法 | ||
本发明提出一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法,解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制,同时提高了脱靶量延时的测量精度。该方法首先将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中,调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像;然后分别控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率和小幅值高频率的正弦运动,采用运动相移法测量这两种参数条件下的脱靶量延时,相应分别记为Tc和Ts,综合得到高精度延时为:Tf+Ts×MOD(Tc,Ts),其中MOD(Tc,Ts)表示Tc/Ts的模值。本发明利用系统自身配置,无需增加额外软硬件,能显著提高延时测量精度,简单易行,可实施性强。
技术领域
本发明属于光电跟踪技术领域,涉及光电跟踪系统中脱靶量延时的测量方法。
背景技术
随着光电跟踪技术的不断进步及其应用领域的不断扩展,达成应用目的所需的跟踪精度也越来越高。这在空间光通信、激光武器以及靶场光学测量等应用中的体现尤其明显。
高的跟踪精度离不开对目标运动规律的准确预测,而预测的精度依赖于历史时刻对目标位置的测量精度以及预测时间的精度。脱靶量延时精度对两者均有影响,而且是主要影响因素之一。
典型的光电跟踪系统由跟踪机构、光学镜头、相机及电子学单元组成。工作时,电子学单元驱动跟踪机构运动,带动安装于其上的光学镜头及相机指向不同空间的位置,并从相机获取清晰图像。在光电跟踪系统中,目标的位置可由光学视轴中心位置加偏差量得到。光学视轴中心位置由安装在跟踪机构上的角度传感器给出;位置偏差量可由图像脱靶量、光学参数、相机参数计算得出。通常角度传感器的输出更新率高、实时性好,而图像脱靶量由于相机以及图像处理技术的限制,其输出更新率低、实时性差。这样,使用高更新频率的角度值和低更新频率的脱靶量值合成目标空间位置时存在着数据对正的问题,即总希望用于解算空间位置的角度值和脱靶量值为同一时刻采样数据。
工程中以某时刻角度传感器输出的角度值作为基准,定义收到该时刻对应的图像脱靶量的时间为脱靶量延时。脱靶量延时受到相机曝光时长、脱靶量提取算法、通信传输时间等因素的影响。通常采用时间戳法和运动相移法进行测量。
时间戳法是指在角度和脱靶量数据包里分别附加自身的采样时间,通过比对两者的时间差来确定延时。该种测量方法简单,但需要系统具备统一的授时设备。
运动相移法是指在目标静止条件下使跟踪机构做固定频率的正弦运动,实时收集角度值和脱靶量值,事后比对两者的相位差从而得到脱靶量延时。该方法不需要授时设备,应用广泛,但要求正弦运动的周期大于脱靶量延时,否则由于正弦的周期性将不能得出正确的结果。
采用运动相移法测量脱靶量延时时,希望跟踪机构具有高的位置变化率以利于提高测量精度。高的位置变化率对应于正弦运动的大幅值和高频率。实际系统由于驱动能力限制,通常只能实现大幅值低频率和小幅值高频率的正弦运动。仅采用某一种频率的运动相移法测量脱靶量延时时,同样受前文所述的正弦运动周期须大于延时时长的限制。
发明内容
本发明提出了一种提高光电跟踪系统中脱靶量延时测量精度的方法,解决了现有运动相移法要求跟踪机构正弦运动周期大于延时时长的限制,同时提高了脱靶量延时的测量精度。
本发明的技术方案如下:
该方法包括以下环节:
1)将模拟目标置于光电跟踪系统的视场中,调节其位置使光电跟踪系统的相机能清晰成像,然后将模拟目标在该位置固定;
2)控制光电跟踪系统带动其光学镜头及相机做大幅值低频率的正弦运动,正弦运动的周期Tz大于预估的脱靶量延时值,正弦运动的幅值应保证整个测量过程中模拟目标不出视场;由光电跟踪系统的电子学单元实时记录角度和脱靶量数据,并采用运动相移法测量脱靶量延时,记为Tc;
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